حذف مسیرسیگنال مرجع درسامانه نانومترولوژی سوپرهتروداین
محل انتشار: دومین همایش سراسری کاربردهای دفاعی علوم نانو
سال انتشار: 1390
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 585
متن کامل این مقاله منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل مقاله (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
BSNANO02_245
تاریخ نمایه سازی: 9 بهمن 1392
چکیده مقاله:
دراین مقاله باارایه یک روش جدیددرسامانه نانومترولوژی برپایه تداخل سنج سوپرهتروداین مسیرسیگنال مرجع را ازساختارحذف نموده و ازسیگنالهای بخش اندازه گیری آن رابازیابی خواهیم کرد درسامانه های متداول ازسه اشکارسازنوری بهمنی برای اندازه گیری جابجایی هادرمقیاس نانواستفاده میشود امادراین مقاله نشان خواهیم داد که میتوان باحذف مسیرمرجع تعداد اشکارسازهای نوری و نیز افزاره های اپتیکی مانند قطبنده خطی و بخشهای الکترونیکی مانند ضرب کننده متعادل دوگانه را کاهش داد
کلیدواژه ها:
نویسندگان
سعید علیائی
دانشگاه تربیت دبیر شهید رجایی تهران
بهرام منفرد
دانشگاه تربیت دبیر شهید رجایی تهران
مراجع و منابع این مقاله:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :