CIVILICA We Respect the Science
ناشر تخصصی کنفرانسهای ایران
عنوان
مقاله

مدل سازی دوسامانه نانومترولوژی برمبنای روش فرکانس - مسیر

اعتبار موردنیاز : ۱ | تعداد صفحات: ۴ | تعداد نمایش خلاصه: ۴۳۶ | نظرات: ۰
سال انتشار: ۱۳۹۲
نوع ارائه: پوستر
کد COI مقاله: BSNANO03_052
زبان مقاله: فارسی
حجم فایل: ۲۶۱.۷۳ کیلوبایت (فایل این مقاله در ۴ صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد)

راهنمای دانلود فایل کامل این مقاله

اگر در مجموعه سیویلیکا عضو نیستید، به راحتی می توانید از طریق فرم روبرو اصل این مقاله را خریداری نمایید.
با عضویت در سیویلیکا می توانید اصل مقالات را با حداقل ۳۳ درصد تخفیف (دو سوم قیمت خرید تک مقاله) دریافت نمایید. برای عضویت در سیویلیکا به صفحه ثبت نام مراجعه نمایید. در صورتی که دارای نام کاربری در مجموعه سیویلیکا هستید، ابتدا از قسمت بالای صفحه با نام کاربری خود وارد شده و سپس به این صفحه مراجعه نمایید.
لطفا قبل از اقدام به خرید اینترنتی این مقاله، ابتدا تعداد صفحات مقاله را در بالای این صفحه کنترل نمایید.
برای راهنمایی کاملتر راهنمای سایت را مطالعه کنید.

خرید و دانلود فایل مقاله

با استفاده از پرداخت اینترنتی بسیار سریع و ساده می توانید اصل این مقاله را که دارای ۴ صفحه است در اختیار داشته باشید.

قیمت این مقاله : ۳,۰۰۰ تومان

آدرس ایمیل خود را در کادر زیر وارد نمایید:

مشخصات نویسندگان مقاله مدل سازی دوسامانه نانومترولوژی برمبنای روش فرکانس - مسیر

    سعید علیائی - دانشگاه تربیت دبیر شهید رجایی تهران
  زهرا دشتبان - دانشگاه تربیت دبیر شهید رجایی تهران

چکیده مقاله:

دراین مقاله ضمن طراحی مدلسازی و تحلیل دوسامانه نانومترولوژی با استفاده ازمدل فرکانس - مسربه مقایسه ای بین تداخل سنج دومودمعمولی و تداخل سنج سه مودبهبود یافته پرداخته میشود ازاین مدل برای تحلیل خطای غیرخطی متناوب استفاده میشود تعدادعبارات تداخلی ازتعدادمسیرها و فرکانسها بدست می اید که این عبارات صرفنظر ازارایش تداخل سنج به چهارگروه توان نوری تداخلAC تداخل DC و مرجع AC تقسیم بندی میشوند باتوجهبه نتایج تحلیل انجام شده اگرچه قابلیت تفکیک پذیری درتداخل سنج سوپرهتروداین سه مودچهاربرابر شده است اما مولفه های جریانی به 21 افزایش یافته است درحالیکه تعداد مولفه های جریانی نوع هتروداین دومودی برابر10 است

کلیدواژه‌ها:

نانومترولوژی، تداخل سنج هتروداین لیزری، تداخل سنج سوپرهتروداین لیزری، مدل فرکانس - مسیر

کد مقاله/لینک ثابت به این مقاله

برای لینک دهی به این مقاله، می توانید از لینک زیر استفاده نمایید. این لینک همیشه ثابت است و به عنوان سند ثبت مقاله در مرجع سیویلیکا مورد استفاده قرار میگیرد:
https://www.civilica.com/Paper-BSNANO03-BSNANO03_052.html
کد COI مقاله: BSNANO03_052

نحوه استناد به مقاله:

در صورتی که می خواهید در اثر پژوهشی خود به این مقاله ارجاع دهید، به سادگی می توانید از عبارت زیر در بخش منابع و مراجع استفاده نمایید:
علیائی, سعید و زهرا دشتبان، ۱۳۹۲، مدل سازی دوسامانه نانومترولوژی برمبنای روش فرکانس - مسیر، سومین همایش سراسری کاربردهای دفاعی علوم نانو، تهران، دانشگاه جامع امام حسین (ع)، https://www.civilica.com/Paper-BSNANO03-BSNANO03_052.html

در داخل متن نیز هر جا که به عبارت و یا دستاوردی از این مقاله اشاره شود پس از ذکر مطلب، در داخل پارانتز، مشخصات زیر نوشته می شود.
برای بار اول: (علیائی, سعید و زهرا دشتبان، ۱۳۹۲)
برای بار دوم به بعد: (علیائی و دشتبان، ۱۳۹۲)
برای آشنایی کامل با نحوه مرجع نویسی لطفا بخش راهنمای سیویلیکا (مرجع دهی) را ملاحظه نمایید.

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :

  • C. M. Sutton, "Non-linearity in length measurement using heterodyne laser ...
  • Y. Bitou, "Polarization Mixing Error Reduction in a Two-Beam Interferometer ...
  • W. Hou, "Optical parts and the nonlinearity in i n ...
  • interferometerc _ IET Op toelectronics, Vol. 3, No. 5, pp. ...
  • S. Olyaee and S. Hamedi, _ low -nonlinearity with ...
  • quadrupled resolution in the displacement me surement , The Arabian ...
  • T. L. Schmitz and J. F. Beckwith, _ investigation of ...
  • S. Olyaee and S. M. Nejad, :Error analysis, improved ...
  • heterodyne n an o-displacement interferometer ", Iranian Journal of Electrical ...
  • Interferometer _ IEEE Circuit and Systems Society, ICECS, Nice, France, ...
  • علم سنجی و رتبه بندی مقاله

    مشخصات مرکز تولید کننده این مقاله به صورت زیر است:
    نوع مرکز: دانشگاه دولتی
    تعداد مقالات: ۳۷۰۶
    در بخش علم سنجی پایگاه سیویلیکا می توانید رتبه بندی علمی مراکز دانشگاهی و پژوهشی کشور را بر اساس آمار مقالات نمایه شده مشاهده نمایید.

    مدیریت اطلاعات پژوهشی

    اطلاعات استنادی این مقاله را به نرم افزارهای مدیریت اطلاعات علمی و استنادی ارسال نمایید و در تحقیقات خود از آن استفاده نمایید.

    مقالات مرتبط جدید

    شبکه تبلیغات علمی کشور

    به اشتراک گذاری این صفحه

    اطلاعات بیشتر درباره COI

    COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
    کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.