اندازه گیری نانو ذرات به وسیله پویایی الکتریکی

اندازه گیری ذرات درزمینه های گوناگونی ازجمله نانوتکنولوژی علم موادپایش الودگی هوا و براورد کیفیت هوا مورد استفاده قرارمیگیرد یکی ازروشهای مرسوم جهت اندازه گیری ذرات استفاده ازپویایی الکتریکی است طیف سنجی پویایی الکتریکی ذرات بین 10تا1000 نانومتر را تحت تاثیر میدان الکتریکی طبقه بندی می کند طیف سنج پویایی الکتریکی دارای دوالکترود است که ایروسل و هوای پوششی دربین آنه جریان می یابد ذرات موجود درایروسل و هوای پوششی ازیکسمت وارد شه و تحت تاثیرمیدان الکتریکی قرارمیگیرند ذرات تحت اثرمیدان الکتریکی به سمت یک الکترود منحرف شده و بسته به پویایی الکتریکیشان درنقاط متفاوتی به الکترود برخورد می کنند توزیع اندازه ذرات به واسطه اندازه گیری علائم الکترکیی توسط برق سج بدست می اید دقت توزیع ذرات به دست ام ده تحت تاثیرشرایط جریان هندسه طیف سنج میدان الکتریکی و تعدادالکترود های حلقوی قراردارد برای بدست اوردن توزیع طیفی اندازه ذرات دراین نوع طیف سنجها دوروش وجود دارد استفاده ازمیدان الکتریکی متغیر با زمان باانجام اندازه گیری دریکنقطه برخورد ثابت و استفاده ازمیدان الکتریکی ثابت باانجاماندازه گیری درمکان های متفاوت چندکاناله / درکار حاضر یک طیف سنج چندکاناله با استفاده ازدینامیک سیالات محاسباتی موردمطالعه قرارگرفته است

کلیدواژه ها:

پویایی الکتریکی ، ایروسل ، اندازه گیری ایروسل ، طیف سنهج پویایی الکتریکی