ارائه یک روش جهت افزایش قابلیت اطمینان و کارایی درسیستم های چندهسته ای
محل انتشار: کنگره ملی مهندسی برق، کامپیوتر و فناوری اطلاعات
سال انتشار: 1392
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 1,740
فایل این مقاله در 5 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
CECIT01_491
تاریخ نمایه سازی: 14 شهریور 1392
چکیده مقاله:
اشعه های کیهانی باعث رخداد اشکالات نرم دریک سیستم کامپیوتری میشوند که بخش اعظمی ازاین اشکالات نرم درحافظه نهان اتفاق می افتد بنابراین حافظه نهان نقش مهمی درقابلیت اطمینان پردازنده ها ایفا می کند طراحان پردازنده ها با استفاده ازتخمین اسیب پذیری ساختارمیتوانند نرخ اشکالات نرم را درپردازنده های محاسبه کنند دراین مقاله روشی جهت کاهش اسیب پذیری سطح دوم حافظه نهان بادرنظر گرفتن کارایی پردازنده درسیستم های چندهسته ای پیشنهاد شده است دراین روش با استفاده ازدسته بندی حافظه های نهان دریک سیستم16 هسته ای به گروه های 2و4و8و16 تایی و کاهش نرخ نبود داده درآنها اسیب پذیری حافظه نهان را کاهش داده ایم و ازطرفی دیگر با این روش کارایی سیستم نیز افزایش پیدا کرده است
کلیدواژه ها:
نویسندگان
مراجع و منابع این مقاله:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :