بررسی خواص الکترومغناطیسی لایه ضخیم فریت باریم تشکیل شده به روش سل - ژل

سال انتشار: 1386
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 1,100

فایل این مقاله در 10 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

CIMS11_338

تاریخ نمایه سازی: 24 اردیبهشت 1387

چکیده مقاله:

لایه ضخیم فریت باریم با ترکیب BaFe12O19 با استفاده از فرایند سل - ژل به روش چرخشی تهیه شد. سل توسط پودرهای توزیع یافته در محلول اولیه فریت باریم تشکیل شد. ارزیابی ساختار، ترکیب و خواص مغناطیسی لایه ضخیم فریت باریم توسط VSM ، EDX ، SEM ، XRD، پذیرفتارسنج ac انجام شد. نتایج نشان داد که می توان پوشش فریت باریم عاری از ترک با ضخامت حدود 15 μm تولید کرد. مشخص شد حلقه های پسماند مغناطیس برای میدان مغناطیسی اعمالی در هر دو حالت موازی و عمودی تقریبا یکسان بودند.

نویسندگان

احسان محمد شریفی

دانشجوی کارشناسی، دانشکده مهندسی مواد، دانشگاه صنعتی مالک اشتر

علی قاسمی

استادیار، دانشکده مهندسی مواد، دانشگاه صنعتی مالک اشتر

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • Y. Chen, D. E. Laughlin, X. Ma, M. H. Kryder, ...
  • A. Lisfi, J. C. Lodder, J. Magn. Magn. Mater. 242-245 ...
  • S. Capraro, J. P. Chatelon, M. Le Berre, J. Magn. ...
  • _ Pignard, H. Vincent, J. P. Senateur, Thin Solid Films, ...
  • Materials Engineering Department, Malek Ashtar University of Technology, Shahin Shahr, ...
  • Materials Engineering Department, Malek Ashtar University of Technology, Shahin Shahr, ...
  • نمایش کامل مراجع