طراحی LUT با قابلیت خود تست کنندگی داخلی اتوماتیک

سال انتشار: 1396
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 489

فایل این مقاله در 15 صفحه با فرمت PDF و WORD قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

CITCOMP02_046

تاریخ نمایه سازی: 7 اسفند 1396

چکیده مقاله:

امروزه FPGAs در کاربردهای صنعتی از اهمیت خاصی برخوردار هستند. از این رو، اطمینان از عملکرد صحیح آنها، از اهمیت ویژه ای برخوردار است. ما در این مقاله، یک هسته تست داخلی از نوع خودتست کنندگی داخلی اتوماتیک را، در یک LUT با هدف تست و بررسی خطا، طراحی کردیم. جهت بررسی این روش از نرم افزار قدرتمند H_SPICE با دقت 45 نانومتر استفاده کردیم. از مزایای این روش اتوماتیک بودن، آشکارسازی خطاهای مختلف، حفظ اطلاعات اولیه و کاهش سربار سخت افزاری به نسبت روش مقایسه ای است.

کلیدواژه ها:

خود تست کنندگی داخلی ، FPGA ، اتوماتیک ، BIST ، LUT

نویسندگان

هانیه کرم

گروه مدارمجتمع دیجیتال، دانشکده فنی مهندسی، دانشگاه کردستان، سنندج، ایران

هادی جهانی راد

استادیار گروه برق و الکترونیک، دانشگاه کردستان، سنندج، ایران