همبستگی بین مشخصات نانو ساختاری لایه های نازک آلمینیومی و پراکندگی نور به روش کیرشهف
محل انتشار: هشتمین کنفرانس ماده چگال
سال انتشار: 1385
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 1,466
متن کامل این مقاله منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل مقاله (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
CMC08_017
تاریخ نمایه سازی: 3 اسفند 1385
چکیده مقاله:
در این مقاله ، لایه های نازک آلمینیومی در 5 ضخامت مختلف با استفاده از دستگاه تبخیر در خلا بر روی سطوح شیشه ای لایه نشانی شده اند . با استفاده از اطلاعات حاصل از میکروسکوپ نیروی اتمی ) ) AFM ، زمختی ( زبری ) و طول همدوسی این سطوح اندازه گیری شده است . بررسی بازه تقریب کیرشهف در پراکندگی نور از سطوح آلمینیومی ، تعیین شدت نور پراکنده در زوایای پراکندگی مختلف و همچنین خواص اپتیکی از قبیل بازتاب و پراکندگی نانو ساختاری از آن سطوح در ضخامت های مختلف از جمله مراحل این تحقیق می باشد .
نویسندگان
سکینه حسین آبادی
گروه فیزیک دانشگاه الزهرا، تهران
عبدالله مرتضی علی
گروه فیزیک دانشگاه الزهرا، تهران
محمدرضا سرکرده ای
گروه فیزیک دانشگاه الزهرا، تهران
رضا جعفری
دانشکده فیزیک ، دانشگاه صنعتی شریف، تهران