رشد بلورهای مخلوط KBrxCl1-x به روش چکرالسکی و تأثیر درصدهای مختلف بر روی الگوی اشعه ایکس

سال انتشار: 1387
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 1,534

متن کامل این مقاله منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل مقاله (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

CMC09_151

تاریخ نمایه سازی: 6 دی 1387

چکیده مقاله:

تک بلور KBrxCl1-x بدون ناخالصی به روش چکرالسکی در آزمایشگاه تحقیقاتی رشد بلور، رشد داده شد. آنالیز حاصل از پراش اشعه ایکس بر روی نمونه ها نشان می دهد که با ورود درصدهای مختلف، جابجایی بسیار کوچکی در مکان قله ها و شدت نسبی آنها ایجاد می شود که این جابجایی باعث تغییر در ثابت شبکه ای بلورها می گردد. در ضمن این نتایج با توجه به شعاع یونی قابل توجیح می باشد.

نویسندگان

ابراهیم حاجی علی

دانشگاه امام حسین(ع)

سجاد شاه ملکی

دانشگاه امام حسین(ع)

مهدی اژئیان

پژوهشکده فیزیک، تهران

مهرداد نجفی

پژوهشکده فیزیک، تهران

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • F. Rosenberg in "Fundamental of Crystal Growth" (1979). ...
  • . M.Desirant . J.L.Michiels, "Solid state Physics", Oxfod university press, ...
  • . M.Kolowski, M.Ortiz, "A Phase Field Theory of Dislocation Dynamics, ...
  • P.Klug, E.Alexander, . X-Ray Differaction Proc edures ...
  • نمایش کامل مراجع