Characterization of Operating Regimes in Tapping Mode Atomic Force Microscopy
محل انتشار: سومین کنفرانس نانوساختارها
سال انتشار: 1388
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: انگلیسی
مشاهده: 2,118
متن کامل این مقاله منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل مقاله (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
CNS03_336
تاریخ نمایه سازی: 21 دی 1388
چکیده مقاله:
Attractive and repulsive force regimes of an atomic force microscope were investigated as a function of tipsample separation. In attraction regime, the net attractive force causes reduction of amplitude and in repulsion regime, the net repulsive force controls the dynamic of the cantilever. There is a strong jump in amplitude and phase diagrams that is always a result of coexistence of two states of oscillation. The nonlinear interaction force between the tip and sample surface is also modeled. A simulation environment is developed to analyze the dynamics of cantilever using the Bernoulli-Euler beam model.
کلیدواژه ها:
نویسندگان
M Habibnejad Korayem
College of Mech. Eng., Iran University of Science and Technology, Tehran, Iran
N Ebrahimi
College of Mech. Eng., Iran University of Science and Technology, Tehran, Iran,
M.M Eghbal
College of Mech. Eng., Iran University of Science and Technology, Tehran, Iran,