مورفولوژی سطح پوششهای نانوکامپوزیتی پلیمری آنتی استاتیک بر پایه اپوکسی- سیلیکا دارای نانوذرات ITO

سال انتشار: 1395
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 654

فایل این مقاله در 6 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

CRPI01_016

تاریخ نمایه سازی: 5 اردیبهشت 1396

چکیده مقاله:

در این مطالعه، مورفولوژی سطحی پوششهای نانوکامپوزیتی پلیمری تهیه شده به روش سل-ژل مورد مطالعه و بررسی قرار گرفته است. سلهای هیبریدی از طریق هیدرولیز و تراکم پیشمادههای سیلانی 3-گلیسیدوکسی پروپیل تری متوکسی سیلان GPTMS تترا متیل اورتوسیلیکات TMOS در حضور یک اسید بهعنوان کاتالیزور و اتیلن دی آمین EDA بهعنوان عامل پخت تهیه شد.نانوذرات ایندیم قلع اکسید ITO با توجه به هدایت الکتریکی مطلوبی که دارند بهعنوان عامل ایجاد کنندهی خاصیت ضد الکتریسیته ساکن مورد استفاده قرار گرفت. به منظور بهبود توزیعپذیری و پراکندگی نانوذرات ITO در ماتریس پلیمری، سطح نانوذرات با گروههای سیلانی اصلاح شد m-ITO مورفولوژی سطح و زبری سطحی پوششهای پلیمری از طریق آزمونهای میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM و میکروسکوپ نیروی اتمی AFM شناسایی شد. با آزمون AFMماکزیزم فاصله عمودی میان بلندترین و کوتاهترین نقاط (زبری سطحی) حدود 20 نانومتر گزارش شد که تاییدی بر زبری نانومتری سطح پوششهای پلیمری این مطالعه میباشد. شکل مکعبی و سایز نانومتری نانوذرات ITO در پوششهای هیبریدی بهوسیله میکروسکوپ الکترونی عبوری TEM بهدست آمد.

نویسندگان

رضا درخشنده حقیقی

گروه مهندسی مواد، دانشکده مهندسی، واحد شیراز، دانشگاه آزاد اسلامی، شیراز، ایران

مصطفی جعفری

مدرس مرکز آموزش علمی - کاربردی شرکت تولیدی لاستیک دنا، شیراز، ایران

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • W Elmas, S, Korkmaz, S., Pat, S, :Optical C haracterization ...
  • Hotovy, J, Huc pkes, J, Bo: tler, W, Marins, E, ...
  • Seki, Y, Sawada, Y, Wang, M, Lei, H, Hoshi, Y, ...
  • Ding, X, Yan, J, Li, T, Zhang, L, :Transparent Conductive ...
  • Popovic , J, Grzeta, B, Tkalccec, E, Tonejc, A, Bijelic ...
  • Senthilkumar, V, Senthil, K, ،0Vickraman P.: _ M icrostructural, Electrical ...
  • Rivero, PJ, Urrutia, A, Goicoechea, J, Zamarren o, CR, Arregui, ...
  • Kim S S, Choi S Y, Park C G, Jin ...
  • Kim, J-W, Choi, J, Hong, S-J, Han, J-I, Kim, Y-S, ...
  • ]10[Zand, RZ, Langroudi, AE, Rahimi, A, :Synthesis and C haracterization ...
  • ]11[Cho, Y-S, Yi, G-R, Hong, J-J, Jang, SH, Yang, S-M, ...
  • ]12[Liu, J, Wu, D, Zeng, S, :Influence of Temperature and ...
  • نمایش کامل مراجع