مدل Multiple Victim Test برای اشکالات همشنوایی گذرگاهای ارتباطی

سال انتشار: 1388
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 1,620

فایل این مقاله در 7 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

CSICC15_007

تاریخ نمایه سازی: 26 مهر 1388

چکیده مقاله:

تاثیرات همشنوایی دقت انتقال سیگنال را در گذرگاه های ارتباطی کاهش می دهند و بایستی در مدت ساخت و همچنین عملکرد نرمال تراشه مورد آزمایش قرار گیرند. در این مقاله ما مدل Multiple Victim Test که به اختصار MVT نامیده می شود ارائه داده ایم که در آن تاثیرات همشنوایی روی چندین خط قربانی از یک گذرگاه بطورهمزمان آزمایش می شود . در این مدل با استفاده از یک روش تولید آزمایش، دنباله ایی از بردارهای آزمایش استخراج می شود که کلیه اشکالات همشنوایی را مورد هدف قرار می دهند . تعداد بردارهای آزمایش در مقایسه با مدل MAF کاهش یافته و قابلیت بالاتری را نسبت به مدل MAF در آشکارسازی اشکالات ناشی از اتصالات خازنی و القاهای متقابل بین سیمهای یک گذرگاه ارتباطی دارد.

نویسندگان

رضا نورمندی پور

دانشگاه آزاد اسلامی واحد سیرجان

آرش عزیزی مزرعه

دانشگاه آزاد اسلامی واحدفلاورجان

احمد خادم زاده

مرکز تحقیقات مخابرات ایران

امیرمسعود رحمانی

دانشگاه آزاد اسلامی واحد علوم و تحقیقات تهران

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • P. Nordholz, D. Treytnar, J. Otterstedt, H. Grabinski, D. Niggemeyer, ...
  • _ _ VLSI _ Monterey, CA, pp. 28-33, ...
  • H. Zhou and D.F Wang, :Global routing with crosstalk constraints, ...
  • Z. Chen and I. Koren, "Crosstalk minimization in three- layer ...
  • A.B. Kahng, S. Muddu, E. Sarto, R. Sharma, "Interconnet tuning ...
  • Analysis Crosstalkء [5] S. Voranantakul, J. Prince, and P. Hsu, ...
  • Y. Eo, W. Eisenstadt, J. Jeong, and O. Kwon, :A ...
  • W. Chen, S. Gupta and M. Breuer, _ Generation in ...
  • K. Lee, C. Norquitst, and J. Abraham, :0Automatic Test Pattern ...
  • M. Cuviello, S. Dey, X. Bai, Y. Zhao, "Fault Modeling ...
  • Conference on C omputer-Aided Design, 297-303, 1999. ...
  • Wei-Cheng Lai, Jing-Reng Huang, Kwang-Ting Cheng, _ _ ded-software -based ...
  • T. Deguchi, T. Koide, S. Wakabayashi, "Timing driven hierarchical global ...
  • E. Bogatin, "Signal Integrity-Simpl ified, " Prentice Hall, 2004. ...
  • W. Chen, S. Gupta and M. Breuer, :Test Generation for ...
  • W. Chen, S. Gupta and M. Breuer, _ Generation in ...
  • Attarha and M. Nourani, :Test Patter Generation for signal Integrity ...
  • نمایش کامل مراجع