بررسی روش های تلفیق تصاویر سنجش از دور در سطح پیکسل
سال انتشار: 1398
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 1,135
فایل این مقاله در 12 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
DCONF04_025
تاریخ نمایه سازی: 18 مرداد 1398
چکیده مقاله:
با پیشرفت تکنولوژی و پیدایش سنسور های متنوع در طیف الکترومغناطیس، سنجش از دور با مقادیر قابل توجهی داده سر و کار دارد. به منظور بهره مندی توام از اطلاعات طیفی و مکانی سنسور های مختلف از تلفیق تصاویر استفاده میگردد. تلفیق تصویر ترکیبی است از دو یا چند تصویر از منابع مختلف که در رزولوشن، محدوده ی طیفی و روش های اخذ تصویر باهم متفاوتند و هدف تبدیل آن به یک تصویر واحد است که تمام ویژگی های مهم تصاویر ورودی در خود حفظ کرده است. این تصاویر در سه سطح پیکسل، ویژگی و سیمبل میتوانند با هم تلفیق شوند و اطلاعاتی با کیفیت را نتیجه دهند که از یک تصویر واحد امکان پذیر نمیباشد. معنا و برآورد کیفیت به بستگی به کاربرد مورد نظر برای تلفیق تصاویر دارد. از این رو هر روش برای کاربردی خاص استفاده میشود و در آن زمینه دقت دارد. هدف از این مقاله مروری بر روش های برجسته ی تلفیق تصاویر سنجش از دور در سطح پیکسل و ارزیابی و مقایسه ی آن ها میباشد.
کلیدواژه ها:
نویسندگان
آیدا پروندی
دانشجوی کارشناسی ارشد سنجش از دور، واحد تهران جنوب، دانشگاه آزاد اسلامی، تهران، ایران
امیرشاهرخ امینی
عضو هیئت علمی گروه مهندسی نقشه برداری، واحد تهران جنوب، دانشگاه آزاد اسلامی، تهران، ایران