بررسی و ارزیابی روش های متداول برای افزایش قابلیت اطمینان و کنترل خطاهای

سال انتشار: 1392
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 971

فایل این مقاله در 10 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

FRCCN01_031

تاریخ نمایه سازی: 25 اردیبهشت 1393

چکیده مقاله:

در سال‌های اخیر، شبکه روی تراشه‌ها به عنوان راه‌حل چالش‌های موجود در طراحی سیستم‌های پیچیده با کارایی بالا در مقیاس ناتو مطرح شده‌اند. کاهش مقیاس ترانزیستورها، کاهش ولتاژ منبع تغذیه تراشه‌های آینده را به همراه داشته که امر منجر به افزایش حساسیت سیم‌ها در مقابل منابع توپز و نیز افزایش میزان خطای گذرای تراشه‌ها شده است. تاکنون روش‌های مختلفی نظیر بکارگیری کدهای تشخیص و تصحیح خطا، جهت ارتقای قابلیت اطمینان بستر ارتباطی شبکه روی تراشه پیشنهاد شده که سربارهایی نظیر تأخیر، توان مصرفی و ناحیه مصرفی را به همراه داشته است. در این مقاله یک روش کنترل خطا به نام روش تلفیقی جهت بکارگیری در همبندی‌های با اتصالات بلند در شبکه روی تراشه پیشنهاد داده شده که از روش تشخیص خطا در اتصالات کوتاه و روش تصحیح خطا در اتصالات بلند استفاده می‌نماییم و روشی برای افزایش قابلیت اتصالات شبکه روی تراشه و حفاظت داده‌ها در برابر خطاهای خط اتصال ناشی از هم شنوایی و بارهای ظرفیت خازنی ارائه شده است.

نویسندگان

صدیقه امرایی

گروه کامپیوتر، دانشگاه آزاد اسلامی واحد بروجرد

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • Srinivasan Murali, Luca Benini, Giovanni De Micheli, "Analysis of Error ...
  • Srinivasan Murali, David Atienza, Luca Bnini, and Giovanni De Micheli, ...
  • R. Marculescu, Umit Y. Ogras, Li-Shiuan Peh, NatalieEnright Jerger, Yatin ...
  • T.R.N. Rao and E. Fujiwara. "Error-Control Coding for Computer Systems". ...
  • D. Bertozzi , L. Benini and G De Micheli , ...
  • L. Benini, S. Murali, G. D. Micheli, "Analysis of Error ...
  • M. DallOsso, G. Biccari, L. Giovannini, D. Bertozzi and L ...
  • Umit Y. Ogras, R. Marculescu, "It's a Small World After ...
  • نمایش کامل مراجع