تثبیت خواص الکتریکی و ریستور اکسید روی توسط فرآیند آنیلینگ و ارتباط آن با ریز ساختار و نوع فازها

از نقطه نظر کاربردی تنزل مشخصه ولتاژ- جریان به عنوان یک مسئله جدی در وریستورها (برقگیرها) مطرح است. پدیده تنزل (یا اضمحلال) منجر به افزایش جریان نشتی و به طبع آن افزایش توان اتلافی در وریستور می گردد که این امر در نهایت می تواند فرار حرارتی که یکی از عوامل عمده تخریب وریستورها است را به همراه داشته باشد. نمونه ها از پودر اکسید های CO3O4,Cr2O3,MnO,Sb2O3,Bi2O3,ZnOو NiO با درصد های معین تهیه گردیدند (2ساعت در دمای 1150درجه سانتیگراد) برای اندازه گیری خواص الکتریکی توسط خمیر نقره الکترود گذاری شد. شناسایی فازهای تشکیل شده و ریزساختار نمونه ها توسط پراش اشعه ایکس (XRD) و میکروسکوپ الکترونی (SEM) انجام گردید. با توجه به اینکه درصد فاز غنی از اکسید بیسموت نسبت به فاز پایه یعنی اکسید بیسموت نسبت به فاز پایه، از محلول NaOH استفاده شد. جهت بررسی پایداری خواص الکتریکی نمونه ها در دمای 115 درجه سانتیگراد، و با ضریب 1/05 برابر VimA به مدت 1000 ساعت تحت آزمون پیرسازی قرار گرفت. برای انجام آزمایش پیرسازی سیستم آزمون با قابلیت ثبت کامپیوتری و ثبت اطلاعات مختلف شامل جریانهای اکتیو و جریان کل، توانهای اکتیو و توان کل و همچنین سایر مشخصات، سیستمی در پژوهشگاه نیرو ساخته شد. پس از انجام فرآیند آنیل در دمای 800-400 درجه سانتیگراد به مدت 2-4 ساعت نتایج بدست آمده از آزمایش پیرسازی بررسی گردیدند.