CIVILICA We Respect the Science
ناشر تخصصی کنفرانسهای ایران
عنوان
مقاله

لایه نشانی و بررسی اکسید قلع نانوساختار در حضور سورفکتانت تترا اتیل آمونیوم هیدروکسید به روش سل-ژل

اعتبار موردنیاز : ۱ | تعداد صفحات: ۵ | تعداد نمایش خلاصه: ۳۰۴ | نظرات: ۰
سال انتشار: ۱۳۹۰
کد COI مقاله: ICC08_169
زبان مقاله: فارسی
حجم فایل: ۲۷۱.۴۱ کیلوبایت (فایل این مقاله در ۵ صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد)

راهنمای دانلود فایل کامل این مقاله

اگر در مجموعه سیویلیکا عضو نیستید، به راحتی می توانید از طریق فرم روبرو اصل این مقاله را خریداری نمایید.
با عضویت در سیویلیکا می توانید اصل مقالات را با حداقل ۳۳ درصد تخفیف (دو سوم قیمت خرید تک مقاله) دریافت نمایید. برای عضویت در سیویلیکا به صفحه ثبت نام مراجعه نمایید. در صورتی که دارای نام کاربری در مجموعه سیویلیکا هستید، ابتدا از قسمت بالای صفحه با نام کاربری خود وارد شده و سپس به این صفحه مراجعه نمایید.
لطفا قبل از اقدام به خرید اینترنتی این مقاله، ابتدا تعداد صفحات مقاله را در بالای این صفحه کنترل نمایید.
برای راهنمایی کاملتر راهنمای سایت را مطالعه کنید.

خرید و دانلود فایل مقاله

با استفاده از پرداخت اینترنتی بسیار سریع و ساده می توانید اصل این مقاله را که دارای ۵ صفحه است در اختیار داشته باشید.

قیمت این مقاله : ۳,۰۰۰ تومان

آدرس ایمیل خود را در کادر زیر وارد نمایید:

مشخصات نویسندگان مقاله لایه نشانی و بررسی اکسید قلع نانوساختار در حضور سورفکتانت تترا اتیل آمونیوم هیدروکسید به روش سل-ژل

  یداله گنج خانلو - پژوهشگاه مواد و انرژی
  فریدون علیخانی حصاری - پژوهشگاه مواد و انرژی
  اصغر کاظم زاده - پژوهشگاه مواد و انرژی
  آروین اسکندری - پژوهشگاه مواد و انرژی

چکیده مقاله:

اکسید قلع با استفاده از روش سل -ژل در حض ور و عدم حضور سورفکتانت تترا اتیل آمونیوم هیدروکسید روی شیشه سودالایم لایه نشانی گردید . سل آماده شده برای لایه نشانی کلر زدایی نیز گردید . لایه های آماده شده با استفاده از تکنیک های پراش اشعه X پروب چهار نقطه ای (برای سنجش مقاومت ورقه ای)، میکروسکوپ نوری میکروسکوپ الکترونی عبوری، الگوی پراش الکترونی و همچنین عبور سنجی در محدوده نور مرئی و ماوراء بنفش بررسی گردیدند . نتایج نشان داد که هر دو فازSnO و SnO2در نمونه ها وجود دارند. همچنین مشاهده شد که با افزودن سورفکتانت، تعداد ترک ها افزایش می یابد ولی ضخامت و گپ در تر کها کاهش مییابد و بنوعی پیوستگی در ترکها ایجاد می شود که باعث افزایش هدایت الکتریکی می شود. تصاویر میکروسکوپ الکترونی عبوری نیز حاکی از تشکیل لایه اکسید قلع با تخلخل بالا می باشد که برای کاربردهای حسگری بسیار مناسب می باشد . مقاومتورقه ای لایه های آماده شده حدود103Ω/m تخمین زده شد اندازه بلور کها، ضخامت لایه بعد از 3 بار لایه نشانی وگاف انرژی برای نمونههای آماده شده بترتیب حدود 20,650nm ,3/56eV محاسبه گردید.

کلیدواژه‌ها:

اکسید قلع، سورفکتانت کاتیونی، لایه نازک، الکترود شفاف

کد مقاله/لینک ثابت به این مقاله

برای لینک دهی به این مقاله، می توانید از لینک زیر استفاده نمایید. این لینک همیشه ثابت است و به عنوان سند ثبت مقاله در مرجع سیویلیکا مورد استفاده قرار میگیرد:
https://www.civilica.com/Paper-ICC08-ICC08_169.html
کد COI مقاله: ICC08_169

نحوه استناد به مقاله:

در صورتی که می خواهید در اثر پژوهشی خود به این مقاله ارجاع دهید، به سادگی می توانید از عبارت زیر در بخش منابع و مراجع استفاده نمایید:
گنج خانلو, یداله؛ فریدون علیخانی حصاری؛ اصغر کاظم زاده و آروین اسکندری، ۱۳۹۰، لایه نشانی و بررسی اکسید قلع نانوساختار در حضور سورفکتانت تترا اتیل آمونیوم هیدروکسید به روش سل-ژل، هشتمین کنگره سرامیک ایران، تهران، انجمن سرامیک ایران، https://www.civilica.com/Paper-ICC08-ICC08_169.html

در داخل متن نیز هر جا که به عبارت و یا دستاوردی از این مقاله اشاره شود پس از ذکر مطلب، در داخل پارانتز، مشخصات زیر نوشته می شود.
برای بار اول: (گنج خانلو, یداله؛ فریدون علیخانی حصاری؛ اصغر کاظم زاده و آروین اسکندری، ۱۳۹۰)
برای بار دوم به بعد: (گنج خانلو؛ علیخانی حصاری؛ کاظم زاده و اسکندری، ۱۳۹۰)
برای آشنایی کامل با نحوه مرجع نویسی لطفا بخش راهنمای سیویلیکا (مرجع دهی) را ملاحظه نمایید.

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :

  • M. Batzill, U. Diebold, "The surface and materials science of ...
  • C. Cobianu, C. Savaniu, O. Buiu, D. Dascalu, M. Zaarescu, ...
  • B. Bahrami, A. Khodadadi, M. Kazemeini, Y. Mortazavi, "Enhanced CO ...
  • F. Khan, M. Mehmood, A. M. Rana, M T. Bhatti, ...
  • M. Birkholz, "Thin Film Analysis by X-Ray Scattering". (Weinheim: Wiley-VCH, ...
  • N. M. Torkaman, Y. Ganjkhanlou, M. Kazemzad, H. H. Dabaghi, ...
  • محاسبه پارامترهای نانوساختار لایه نازک ایندیم اکسید آلاییده شده با قلع با استفاده از روش ریدفیلد و وارن-اورباخ [مقاله کنفرانسی]
  • و ۹ اریبهشت ۱۳۸۸، شیراز، مجموعه چکیده مقالات، صفحه .۱۳ ...
  • Y. Ganjkhanlou, F. A. Hessari, M. Kazemzad, G. Darbandi, "Distribution ...
  • علم سنجی و رتبه بندی مقاله

    مشخصات مرکز تولید کننده این مقاله به صورت زیر است:
    نوع مرکز: پژوهشگاه دولتی
    تعداد مقالات: ۱۱۶۱
    در بخش علم سنجی پایگاه سیویلیکا می توانید رتبه بندی علمی مراکز دانشگاهی و پژوهشی کشور را بر اساس آمار مقالات نمایه شده مشاهده نمایید.

    مدیریت اطلاعات پژوهشی

    اطلاعات استنادی این مقاله را به نرم افزارهای مدیریت اطلاعات علمی و استنادی ارسال نمایید و در تحقیقات خود از آن استفاده نمایید.

    شبکه تبلیغات علمی کشور

    به اشتراک گذاری این صفحه

    اطلاعات بیشتر درباره COI

    COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
    کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.