بررسی خواص الکتریک و دی الکتریک ماده دی الکتریک تیتانات کلسیم مس تحت فرکانس های متفاوت
محل انتشار: نهمین کنگره سرامیک ایران
سال انتشار: 1392
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 1,562
فایل این مقاله در 10 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
ICC09_082
تاریخ نمایه سازی: 28 آذر 1392
چکیده مقاله:
در کار حاضر ماده تیتانات کلسیم مس به روش مخلوط اکسیدها تولید شد. ساختار، ریزساختار و اندازه دانه های فازهای تشکیل شده در نمونه تولید شده به ترتیب با آنالیز پراش اشعه ایکس (XRD) و میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) بررسی شد و تشکیل فاز پروسکایت تیتانات کلسیم مس مورد تایید قرار گرفت. سپس ثابت دیالکتریک ، اتلاف دیالکتریک و امپدانس نمونه تولید شده در محدوده فرکانسی 20 هرتز تا 200 کیلوهرتز به وسیله LCR Meter اندازه گیری شدو در طیف های آن پلاریزاسیون ماکسول- واگنر (M-W) مشاهده شد در ادامه اثر مدت زمان سینترینگ بر ریزساختار، خواص الکتریک و دیالکتریک بررسی شد و تغییرات بوجود آمده در خواص به وسیله روابط ریاضی تشریح شد در انتها خواص وریستوری نمونه تولید شده نیز به وسیله مولتی متر بررسی شد.
نویسندگان
حامد احمدی اردکانی
گروه الکتروسرامیک، دانشگاه صنعتی شیراز
مرتضی علیزاده
گروه الکتروسرامیک، دانشگاه صنعتی شیراز
رسول امینی
گروه الکتروسرامیک، دانشگاه صنعتی شیراز
مراجع و منابع این مقاله:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :