فناوری نوین گیت با ولتاژ ثابت برای کاهش جریان نشتی درین القاء شده از گیت در افزاره MOSFET دو گیتی در ابعاد نانو

سال انتشار: 1392
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 1,168

فایل این مقاله در 6 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

ICEEE05_066

تاریخ نمایه سازی: 3 آذر 1392

چکیده مقاله:

جریان نشتی درین القا شده ازگیت (GIDL) درترانزیستورهای اثرمیدانی دوگیتی (DG -MOSFET) یکی ازمولفه های اصلی جریان نشتی محسوب می شود. جریان GIDL نقش مهمی را درزمان نگهداری اطلاعات درسلولهای DRAM بازی می کند و به عنوان یکی ازعوامل محدود کننده مقیاس پذیری افزاره های DG -MOSFET مطرح می شود. دراین مقاله برای اولین بار استفاده ازدو گیت درطول کانال برای کاهش جریان GIDL و به دنبال آن جریان حالت خاموش، درافزاره DG -MOSFET درابعادنانو پیشنهاد شده است. با بکارگیری گیت با ولتاژ ثابت میتوان خمیدگی نوارهای انرژی را درمحل وقوع GIDL کاهش داد درنتیجه نرخ تولید تونل زنی نواربه نوار (BTBT) کاهش یافته و جریان GIDL کم می شود. استفاده ازتکنیک گیت باولتاژ ثابت جریان حالت خاموش افزاره را 105 برابر کاهش می دهد و باعث افزایش قابل توجه در Ion/Ioff می شود.

کلیدواژه ها:

تونل زنی نواربه نوارBTBT ، جریان نشتی درین القا شده ازگیت GIDL ، حافظه های بادسترسی تصادفی پویا DRAM

نویسندگان

مهدی وادی زاده

دانشکده مهندسی برق دانشگاه آزاد اسلامی واحد ابهر

سونیا صادقی

دانشگاه آزاد اسلامی واحد ابهر

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • DRAM Data Retention Time, " IEEE, 0-7803-6441 -4, 2000. ...
  • K. Tanaka, K I Takeuchi, M. Hane, "Source/Drain Optimization of ...
  • _ _ _ _ _ Drain Leakage Current", ECE department ...
  • T. Hoffman, G.Doornbos, I. Ferain, N. Collaert, P. Zimmerman, M. ...
  • K. Roy, S. Mukhopadhyay, H. Mahmoodi- ...
  • "Leakage Current Mechanisms and Leakage Reduction Techniques _ Deep-Sub micrometer ...
  • M. Chang, J. Lin, S. N. Shih, T. C. Wu, ...
  • F. Gilbert, D. Rideau, A. Dray, F. Agut, M. Minondo, ...
  • K. F. You, and C. Y. Wu, "A New Quasi-2-D ...
  • نمایش کامل مراجع