Aging in Current Mirrors

سال انتشار: 1396
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: انگلیسی
مشاهده: 475

فایل این مقاله در 5 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

ICELE02_345

تاریخ نمایه سازی: 7 اسفند 1396

چکیده مقاله:

Transistor aging effects are a major concern for device scientists, trying to integrate reliable circuits in unreliable ultra-scaled CMOS processes. On the other hand, current mirror is an import part in circuit for biasing. This paper discuss the aging effect on different type of current mirrors. The simulation is done in HSPICE with 32nm PTM model

کلیدواژه ها:

نویسندگان

Zhila Amini-sheshdeh

Faculty of Engineering, Alzahra University