تشخیص عیب در مدارات آنالوگ با استفاده از EMD بهبود یافته

تشخیص عیب و تست یکی از مراحل مهم و حایز اهمیت در فرآیند تولید، به شمار می رود. در حالت کلی، تست وعیب یابی، در هر فرآیند تولیدی، در مراحل انتهایی فرایند صورت می گیرد، که بعد از انجام این مرحله، سیستم موردنظرآماده استفاده است. در حال حاضر مدارات و سیستم های کنترلی به طور گسترده ای در کنترل، مخابرات، ادوات پزشکی وغیره استفاده میشوند. با گسترش روزافزون تکنولوژی نیز پیچیدگی آنها بیشتر و بیشتر شده است. ازاین رو تحقیقاتدرزمینه تشخیص عیب به عنوان یک موضوع داغ و پر چالش همواره ضروری و غیرقابل حذف می باشد. روش های زیادی دراین زمینه مطرح میشود. در این کار از روشهای پردازش سیگنال و هوش مصنوعی استفاده خواهد شد. روش های هوشمصنوعی بسیاری در ترکیب با روش های پردازش سیگنال مانند تبدیل موجک، شبکه های عصبی مصنوعی، ماشین بردارپشتیبان، الگوریتم ژنتیک و غیره وجود دارد. در این مقاله یک روش جدید برای تجزیه مد تجربی سیگنال به زیرسیگنالهای مستقل ارایه شده است که این امر موجب استخراج ویژگی ها با تفکیک پذیری بالا و درنهایت دقت تشخیصبهتر شده است. عملکرد روش پیشنهادی با استفاده از شبیه سازی دو مدار آنالوگ محکزنی موردبررسی و مقایسه قرارگرفتهاست که نتایج به دست آمده عملکرد بهتر روش پیشنهادی را نشان می دهد.

کلیدواژه ها:

تشخیص عیب ، تجزیه مد تجربی ، شبکه عصبی ، استخراج ویژگی