تسریع در متدهای آزمون مدارهای دیجیتال با جایگزینی شاخص پوشش

شبیه سازی اشکال و محاسبه شاخص پوشش اشکال در بسیاری از متدهای آزمون مدارهای دیجیتال مانند روش هایتولید بردار آزمون، روش های ارزیابی بردارهای آزمون، روشهای ارزیابی آزمون پذیری مدارهای دیجیتال، و روش های عیب-یابی مدارهای دیجیتال مورد استفاده قرار می گیرد. روشهای معمول برای محاسبه پوشش اشکال، بسیار کند و زمانبر بودهو یک گلوگاه جدی در روشهای آزمون مدارهای دیجیتال محسوب میشوند. در این مقاله یک معیار جایگزین در سیستممحاسباتی احتمالی، به نام شاخص شایستگی به عنوان یک جایگزین مناسب برای معیار پوشش اشکال پیشنهاد شده است.ضریب همبستگی بین شاخص شایستگی و پوشش اشکال برای تعدادی مدار محک از مجموعه مدارهای محک ISCAS85محاسبه شده و نتایج محاسبات، همبستگی قوی بین این دو شاخص را نشان میدهد.

کلیدواژه ها:

متدهای آزمون ، بردار آزمون ، شبیهسازی اشکال ، پوشش اشکال ، شاخص شایستگی ، ضریب همبستگی