آشکارسازی یکسانی خطا با استفاده از شبکه های عصبی و ایده تفکیک خروجیها

سال انتشار: 1384
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 1,509

فایل این مقاله در 8 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

این مقاله در بخشهای موضوعی زیر دسته بندی شده است:

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

ICIKT02_129

تاریخ نمایه سازی: 12 دی 1386

چکیده مقاله:

یکسانی خطا یک مفهوم مهم در طراحی دیجیتال است و نقش مهمی در زمینه های تشخیص خطا، تولید اتوماتیک الگوی تست، آنالیز و سنتز قابل تست بودن مدار ایفا می کند . در این مقاله استفاده از شبکه های عصبی و نیز ایده تفکی ک خروجیها را برای تشخیص یکسانی خطا پیشنهاد و بررسی می کنیم . در دو دهه گذشته، تکنیکهای شبکه های عصبی به عنوان یک روش متکی بر داده به بلوغ رسیده اند و افق کاملاً جدیدی را در عرصه تشخیص خطا به وجود آورده اند . یکی از مشکلاتی که در زمینه تشخیص خطا وجود دارد، طو لانی بودن لیست خطا است و تحقیقات وسیعی برای کاهش آن در حال انجام است . با استفاده از شبکه های عصبی، به دو روش می توان یکسانی خطا را آشکارسازی کرد . در روش نخست، با کمی آموزش شبکه و رسم نمودار خط ا می توان وجود یکسانی خطا را جست جو نمود . در روش دوم، در مرحله ت ست شبکه آموزش دیده، می توان مکان های دیگری که ممکن است بردار تست به آنها تعلق داشته باشد، را آشکار کرد

نویسندگان

کریم محمدی

دانشگاه علم و صنعت ایران

سیدجواد سیدمهدوی چابک

دانشگاه علم و صنعت ایران

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • فناوری‌اطلاعات؛ دانش _ 3-5خرداد 1384 2000, vol.5, pp.2 17-220. ...
  • بررسی تاثیر تفکیک خروجیها و عمل indexing در عملکرد یک شبکه عصبی MLP در کاربردهای تشخیص خطا [مقاله کنفرانسی]
  • استفادها ز شبکه های عصبی درتست مدارهای mixed-signal [مقاله کنفرانسی]
  • N. Jha and S.. Gupta, Testing of Digital Systems, Cambridge ...
  • E. J. McCluskey and F. W. Clegg, ،Fault equivalence in ...
  • Robert Chang, Sep Seyedi, Andreas Veneris _ Magdy S. Abadir, ...
  • M. E.Amyeen, W. K. Fucks, I. Pomeranz and V. Boppana, ...
  • T. Gruning, _ Mahlstedt, and H. Koopmeiners, ، DIATEST: A ...
  • A. Veneris, J. Liu, M. Amiri and M. S. Abadir, ...
  • A.Veneris, R.Chang, M.S.Abadir and S.Seyedi, ،Functional Fault Equivalence and Diagnostic ...
  • Amyeen, M.E.; Pomeranz, I.; and Fuchs, W.K., ، Theorems for ...
  • and evaluation techniques for Implication"؛ [9] M. E. Amyeen, W. ...
  • Test Pattern Generation for Sequential Diagnostic؛ [10] I. Hartanto, V. ...
  • A. V. S. S. Prasad, V. D. Agrawal, and M. ...
  • Veneris, A.; Chang, R.; Abadir, M.S.; Amiri, M.;، Fault equivalence ...
  • W. Kunz and D. K. Pradhan, ،#Recursive Learning: A New ...
  • Jia-Zhou He, Zhi-Hua Zhou, Xu-Ri Yin, Shi-Fu Chen, *Using Neural ...
  • D.R. Hush, C.T. Abdallahs, G.L. Heileman, and D. Docampo, ،Neural ...
  • Simon Haykin, Neural Networks: A Comp rehensive Foundation, Prentice Hall, ...
  • Ying Deng; Yigang He; Yichuang Sun, ،Fault diagnosis of analog ...
  • Mohammadi. K., Mohseni. A. R., ،Fault diagnosis of analog circuits ...
  • Samiha Mourad, Yervant Zorian, Principles of Testing Electronic Systems, John ...
  • نمایش کامل مراجع