مقایسه روش های تحلیل SEIMو FVEIM برای تحلیل نقطه اتصال فیبرهای هم سان و نا همسان
محل انتشار: چهاردهمین کنفرانس اپتیک و فوتونیک ایران
سال انتشار: 1386
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 1,500
فایل این مقاله در 5 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
ICOPTICP14_018
تاریخ نمایه سازی: 22 اسفند 1386
چکیده مقاله:
در این مقاله به بررسی اندازه لکه انواع فیبر های کریستال فوتونی ASSB-PCF ، RCPCF و CPCF و اتصال آنها به فیبرهای SMF و NZ-DSF در شبکه نوری پرداخته شده است. در تحلیل مقایسه ای روش های ضریب موثر تمام برداری و اسکالر بر پارامترهای فیبرهای کریستال فوتونی نشان داده است که برای کاهش تلفات اتصال بین فیبرهای SMF به CPCF بای Λ=6/41µm و d/Λ در بازه 0/39 تا 33/ و برابر ASSB-PCF بایدd/Λ در بازه 0/61 تا 68/ باشند. نشان داده شده که با استفاده از فیبرهای RCPCF-Ge و فیبرهای تک مد مغزی بر آمده، تلفات حاصل از نقطه پیوندگاه در محدوده وسیعی از مقدارهای d/Λ به کمینه مقدار می رسد.
کلیدواژه ها:
فیبر تکمد ، فیبر کریستال فوتونی با حفره سیلیکایی و مغزی بر آمده ، روش ضریب موثر اسکالر و تمام برداری
نویسندگان
سمیرا فارسی نژاد
دانشکده برق، دانشگاه سمنان
فرامرز اسمعیلی سراجی
گروه مخابرات نوری، مرکز تحقیقات مخابرات ایران
فرزاد توکلی همدانی
دانشکده برق، دانشگاه سمنان
مراجع و منابع این مقاله:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :