رشد و مشخصه یابی فیلم نازک اکسید روی دوپه شده با کبالت به روش لایه نشانی لیزر پالسی

امروزه فیلمهای نازک نیم رسانای مغناطیسی رقیق شده توجه زیادی را به خود اختصاص داده اند. دراین مقاله فیلم نازک اکسید روی دوپه شده با دو درصد کبالت به روش لایه نشانی لیزر پالسی در خلاء و دمای زیرلایه مناسب لایه نشانی شده است. بررسی ساختار لایه نازک با استفاده از طیف پراش پرتو ایکس، تصویر میکروسکوپ نیروی اتمی، تصویر میکروسکوپ الکترونی انجام شده است همچنین رفتار مغناطیسی لایه به کمک چیدمان اندازه گیری چرخش فارادی به منظور بررسی امکان استفاده از آن در ترابرد اسپینی فرومغناطیس ها در دمای اتاق، مورد مطالعه قرار گرفته است.