بررسی اثر ضخامت روی خواص ساختاری و نوری لایه های نازک ZnO تهیه شده به روش سل - ژل
محل انتشار: شانزدهمین کنفرانس اپتیک و فوتونیک ایران
سال انتشار: 1388
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 2,589
متن کامل این مقاله منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل مقاله (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
ICOPTICP16_343
تاریخ نمایه سازی: 18 تیر 1388
چکیده مقاله:
دراین تحقیق برخی خواص اپتیکی و ساختاری فیلمهای نازک اکسید روی تهیه شده به روش سل - ژل مورد بررسی قرار گرفته است طیف گذار و جذب نمونه های تهیه شده با ضخامت 50nm و 123nm و 190nm اندازه گیری شد. از روی طیف گذار گاف انرژی به دست آمد. نتایج نشان می دهد که با افزایش ضخامت گاف انرژی کاهش می یابد. طیف سنجی رامان از فیلمهای نازک تهیه شده به منظور مطالعه کیفی نمونه ها و میزان نسبی نقایص بلوری انجام شد. خواص ساختاری و مورفولوژی سطح فیلم ها به وسیله آنالیزهای XRD,AFM مورد بررسی قرار گرفت.
کلیدواژه ها:
نویسندگان
محمدرضا خانلری
گروه فیزیک، دانشگاه بین المللی امام خمینی (ره) بلوار دانشگاه قزوین
سیده سمیه عیسی زاده
گروه فیزیک، دانشگاه بین المللی امام خمینی (ره) بلوار دانشگاه قزوین
رسول ملک فر
بخش فیزیک، دانشگاه تربیت مدرس
مراجع و منابع این مقاله:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :