بررسی تاثیر، (وجود پیوندگاه و طول فلزات گیت) بر روی عملکرد ترانزیستور نانوسیمی سیلیکنی تمام گیت استوانه ای چهار فلزی

سال انتشار: 1395
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 452

فایل این مقاله در 7 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

ICTCK03_007

تاریخ نمایه سازی: 10 تیر 1396

چکیده مقاله:

در این تحقیق عملکرد ترانزیستور نانوسیمی سیلیکنی تمام اطراف گیت استوانه ای بدون پیوند(nnn) و با پیوند (npn) بررسی، شبیه سازی و مقایسه شده است. این مقایسه در دو حالت با طول فلزات گیت مساوی 7.5 نانومتر و طول فلزات گیت مختلف (12و8و6و4) نانومتر انجام گرفته است. در این روش فلز نزدیک سورس بالاترین تابع کار و فلز نزدیک درین کمترین تابع کار را دارا می باشد. طول گیت 3 نانومتر، ضخامت نانوسیم 1 نانومتر، ضخامت(sio2) 1 نانومتر و ضخامت (Hfo2) 3 نانومتر و ضخامت گیت 2 نانومتر می باشد [عینا همانند مقاله] دراین تحقیق از شبیه ساز Atlas Silvaco device simulator برای شبیه سازی استفادهد شده است. متغیرهای مورد بررسی در این تحقیق، ولتاژ آستانه DIBL (کاهش سد پتانسیل ناشی از ولتاژدرین)، Ion(جریان روشنی) و Ioff (جریان خاموشی) می باشد. ولتاژ آستانه در ترانزیستور پیوندی با طول فلزات گیت نامساوی بیشترین مقدار بوده است. Ion در ترانزیستور بدون پیوند با طول فلزات گیت مساوی دارای بیشترین مقدار و Ioff در ترازیستور پیوندی باطول فلزات گیت مساوی کمترین مقدار را دارا می باشد. در حالت کلی، ترانزیستور با پیوند با طول فلزات گیت نامساوی در مقایسه با سایر ترانزیستورها دارای کمترین مقدار DIBL می باشد.

کلیدواژه ها:

بدون پیوند ، تمام اطراف گیت استوانه ای ، کاهش سد پتانسیل ناشی از ولتاژدرین ، ولتاژ آستانه

نویسندگان

اکرم نصرآبادی

دانشگاه آزاد اسلامی واحد علوم و تحقیقات خراسان رضوی(نیشابور)، گروه مهندسی برق، نیشابور، ایران

محمد جوادیان صراف

دانشگاه آزاد اسلامی واحد مشهد، گروه مهندسی برق، مشهد، ایران

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • Kouda M, Master thesis .AGuideline for Material Design of Gate ...
  • ITRS, New York, The International Technology Roadmap for Semiconductors, (2009), ...
  • Chen M-L, Lin W-K, Chen S-F. A new two-dimensi onal ...
  • Linin. Zhang, Chenyue Ma, Jin He, Xinnan Lin, Mansun Chan. ...
  • Lee C-W, Ferain I, Afzalian A, Yan R, Akhavan ND, ...
  • Colinge J. P, Lee C. W, Dehdashti Akhavan N, Yan ...
  • _ Vishvakarma S. _ potential distribution of rectangular gate (RecG) ...
  • Kumar Gupta S, Baidya A , Baishya S. Simulation and ...
  • Dixit P, Preetam Singh M, Gupta V. A .Study of ...
  • Arora N. MOSFET _ for VLSI circuit simulation: theory and ...
  • Suveetha Dhanaselvam P Balamurugan N.B.Analytical approach of a nanoscae triple-material ...
  • Jin X-S, Liu X, Hyuck-In K, Jong-Ho L. A continuous ...
  • Li C, Zhuang Y, Han R, Jin G.Subthreshol behavior models ...
  • and quasi-ballistic transport for cylindrical gat-all-around MOSFET _ _ _ ...
  • Jena B, Pradhan K P, Dash S, Mishra G P, ...
  • نمایش کامل مراجع