استفاده از روش استاندارد تحلیل عدم قطعیت در اندازه گیری عمق عیوب به روش فراصوتی زمان پرواز پراش (TOFD)

سال انتشار: 1386
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 2,888

فایل این مقاله در 14 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

INCWI08_020

تاریخ نمایه سازی: 25 مهر 1385

چکیده مقاله:

در این مقاله روش استاندارد تحلیل عدم قطعیت سیستم های اندازه گیری به روش فراصوتی زمان پرواز پراش (TOFD) در اندازه گیری عمق عیوب سطحی و داخلی قطعات اعمال شده است. با توجه به تحقیقات سال های اخیر لازم است که به جای خطای اندازه گیری، بازه ای تحت عنوان عدم قطعیت به همرا ه مقدار پارامتر ارائه گردد. جهت انجام این تحقیق، در ابتدا معادله کاهش داده های آزمون TOFD تشکیل گردید. بر روی شش نمونه فولادی با عیوب صفحه ای با عمق مشخص دو دسته آزمون انجام شد ،آزمون های فراصوتی و آزمون های اپتیکی . ازمون های اپتیکی توسط پروفیل پروژکتور به منظور دست یابی به مقدار دقیق (واقعی) عمق عیب انجام شد. با انجام و تکرار آزمایش های فراصوتی TOFD میزان عدم قطعیت اتفاقی این روش برای هر یک از پارامترهای بدست امد. عدم قطعیت سیستماتیک هر یک از پارامترها نیز با توجه به گواهی کالیبراسیون دستگاه ها، مشخصات ارائه شده توسط سازندگان و هم چنین آزمون های درون آزمایشگاهی بست امد . با استفاده از استانداردهای تحلیل سیستم های اندازه گیری، عدم قطعیت های اتفاقی و سیستماتیک کلی سیستم محاسبه و بر اساس آن ها عدم قطعیت اندازه گیری عمق عیوب محاسبه شد. نتایج بدست آمده حاکی از دقت بالای TOFD در انداز گیری دقیق عمق عیوب در قطعات است.

نویسندگان

مرتضی دشتی زاده

دانشگاه صنعتی خواجه نصیرالدین طوسی، دانشکده مهندسی مکانیک ، گروه سا

فرهنگ هنرور

دانشگاه صنعتی خواجه نصیرالدین طوسی، دانشکده مهندسی مکانیک ، گروه سا

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • Vcnkataranan, K. _ and McLay, A., _ Performancن 6f tlheت ...
  • Baskaran, G., Krishnan _ las _ _ Lalshnnana Rao, C., ...
  • Betti, F., Pignonc, N., Zappavigna, G., Pedrinzani, G., Nardoni, G. ...
  • Betti, F.. Guidi, A., Raffatrta, B3., Nardoni, C., Nardoni, [a. ...
  • Baby, S., Balasubrarnan ian, T. and Pardikar, R.J., "Sizing of ...
  • /A]-Nuaimy, W. and Zahran, O.. " ine-of-flight dilfraction - fr(m ...
  • _ _ M. G.. *'1he rapid :nalysis (pf T()F[) duta ...
  • Hecht, A., "Time of flight diffraction technique (IOFD) - An ...
  • Gokul Swany. Baskaran, G. and Krishnan Balasubraman iam, _ point ...
  • ] Baby, S.. Balasubranani an, T. and Pardikar, R.J., *Tine-of-flight ...
  • Bahy, S, , Balasubramanian, T. and Pardikar, R.J, , :Time-of-light ...
  • Zippel, J., Piuncheira, A. and Washer, A., ،&Crack measurencnt in ...
  • Zalran, O., aund /A]-Nuaimy, V., ،*.Autonatic data processing and defect ...
  • Anmol S. Birring and Bharat K. Nidathavolu, ،Ultrasonic testing of ...
  • Dieck, R. _ _ Unccrtainty: Methuds and Application'", third edition, ...
  • _ _ the Expression of Uncertainty in Measurement (GUM)*, ISO. ...
  • AI/AA S-071 A, 4Asscssmncnt of Expcrimental Uncertainty with Application _ ...
  • _ 7706, 4Guide to Calibration and Setting-Up of the Ultrasonic ...
  • Shyamal Mondal and Sattar, T. 4An Overview TOFD Nethod and ...
  • refercnce tenperature for geometrical product Standard؟، [23] ISO 1, _ ...
  • ] 4 8 12 16 20 24 28 32 (mm) ...
  • نمایش کامل مراجع