CIVILICA We Respect the Science
(ناشر تخصصی کنفرانسهای کشور / شماره مجوز انتشارات از وزارت فرهنگ و ارشاد اسلامی: ۸۹۷۱)
عنوان
مقاله

مطالعه تاثیر آلایش هالوژن بر عملکرد ترانزیستور MOS با ابعاد نانومتری

اعتبار موردنیاز: ۱ | تعداد صفحات: ۳ | تعداد نمایش خلاصه: ۲۲۴۳ | نظرات: ۰
سرفصل ارائه مقاله: فیزیک نانو
سال انتشار: ۱۳۸۴
نوع ارائه: پوستر
کد COI مقاله: IPC84_129
زبان مقاله: فارسی
حجم فایل: ۱۲۲.۸ کلیوبایت
متن کامل این مقاله منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل مقاله (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.

راهنمای دانلود فایل کامل این مقاله

اصل مقاله فوق در بانک مقالات سیویلیکا موجود نیست. مقالات کنفرانس‌های کشور توسط دبیرخانه‌های مربوط منتشر می‌شوند و در صورتی که اصل مقاله توسط دبیرخانه منتشر نشده باشد، امکان ارائه آن توسط سیویلیکا وجود ندارد. در صورتی که نویسنده این مقاله هستید، می‌توایند اصل مقاله را جهت درج در بانک مقالات به سیویلیکا ارسال نمایید.

خرید و دانلود PDF مقاله

متن کامل این مقاله منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل مقاله (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.

مشخصات نویسندگان مقاله مطالعه تاثیر آلایش هالوژن بر عملکرد ترانزیستور MOS با ابعاد نانومتری

  مرتضی فتحی پور - گروه مهندسی برق و کامپیوتردانشگاه تهران
  شیرین قنبری - گروه فیزیک دانشگاه تهران
  عزت اله ارضی - گروه فیزیک دانشگاه تهران

چکیده مقاله:

تغییر مقیاس ترانزیستورهای MPSFET به منظور بهبود عملکرد ترانزیستور MOS و کاهش هزینه ساخت آن انجام می شود . با کاهش ابعاد ، آثار کانال کوتاه مانند پیچش ولتاژ آستانه و اثر DIBL که قبلا در ترانزیستورهای کانال طویل به چشم نمی آمدند اهمیت می یابند، که موجب اختلال در عملکرد ترانزیستور می شوند . یکی از روشها برای از بین بردن آثار کانال کوتاه ایجاد آلایش هاله کون وتبدیل ناخالصی بستر است .. ترانزیستوری با طول کانال موثر 90 نانومتر شبیه سازی شده و با ایجاد آلایش هاله گون و تغییر ناخالصی بستر آثار کانال کوتاه را بهبود می دهیم .

کلیدواژه‌ها:

کد مقاله/لینک ثابت به این مقاله

برای لینک دهی به این مقاله، می توانید از لینک زیر استفاده نمایید. این لینک همیشه ثابت است و به عنوان سند ثبت مقاله در مرجع سیویلیکا مورد استفاده قرار میگیرد:
https://www.civilica.com/Paper-IPC84-IPC84_129.html
کد COI مقاله: IPC84_129

نحوه استناد به مقاله:

در صورتی که می خواهید در اثر پژوهشی خود به این مقاله ارجاع دهید، به سادگی می توانید از عبارت زیر در بخش منابع و مراجع استفاده نمایید:
فتحی پور, مرتضی؛ شیرین قنبری و عزت اله ارضی، ۱۳۸۴، مطالعه تاثیر آلایش هالوژن بر عملکرد ترانزیستور MOS با ابعاد نانومتری، کنفرانس فیزیک ایران 1384، خرم آباد، دانشگاه لرستان، https://www.civilica.com/Paper-IPC84-IPC84_129.html

در داخل متن نیز هر جا که به عبارت و یا دستاوردی از این مقاله اشاره شود پس از ذکر مطلب، در داخل پارانتز، مشخصات زیر نوشته می شود.
برای بار اول: (فتحی پور, مرتضی؛ شیرین قنبری و عزت اله ارضی، ۱۳۸۴)
برای بار دوم به بعد: (فتحی پور؛ قنبری و ارضی، ۱۳۸۴)
برای آشنایی کامل با نحوه مرجع نویسی لطفا بخش راهنمای سیویلیکا (مرجع دهی) را ملاحظه نمایید.

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :

  • R. S. Muller and T. I. Kamins. Device Electronics for ...
  • S. Thompson, p. packan, M.Bohr, MOS scaling. Transistor challenges for ...
  • D. Song, J. Lim, K. Lee, Device Reliability and Optimization ...
  • یانیس پی. تسیویدیس، ترجمه دکتر مرتضی فتحی پور، عملکرد و ...
  • علم سنجی و رتبه بندی مقاله

    مشخصات مرکز تولید کننده این مقاله به صورت زیر است:
    نوع مرکز:
    تعداد مقالات: ۶۳۸۷۴
    در بخش علم سنجی پایگاه سیویلیکا می توانید رتبه بندی علمی مراکز دانشگاهی و پژوهشی کشور را بر اساس آمار مقالات نمایه شده مشاهده نمایید.

    مدیریت اطلاعات پژوهشی

    اطلاعات استنادی این مقاله را به نرم افزارهای مدیریت اطلاعات علمی و استنادی ارسال نمایید و در تحقیقات خود از آن استفاده نمایید.

    مقالات مرتبط جدید

    شبکه تبلیغات علمی کشور

    به اشتراک گذاری این صفحه

    اطلاعات بیشتر درباره COI

    COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
    کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.