CIVILICA We Respect the Science
(ناشر تخصصی کنفرانسهای کشور / شماره مجوز انتشارات از وزارت فرهنگ و ارشاد اسلامی: ۸۹۷۱)
عنوان
مقاله

بررسی تاثیرات میدان مغناطیسی بر روی لایه های نازک مس انباشته شده توسط پراکنش میدان مغناطیسی DC

اعتبار موردنیاز: ۱ | تعداد صفحات: ۴ | تعداد نمایش خلاصه: ۱۰۳۳ | نظرات: ۰
سرفصل ارائه مقاله: ماده چگال نانوساختارها
سال انتشار: ۱۳۸۶
نوع ارائه: پوستر
کد COI مقاله: IPC86_267
زبان مقاله: فارسی
حجم فایل: ۳۱۳.۲۲ کلیوبایت (فایل این مقاله در ۴ صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد)

راهنمای دانلود فایل کامل این مقاله

اگر در مجموعه سیویلیکا عضو نیستید، به راحتی می توانید از طریق فرم روبرو اصل این مقاله را خریداری نمایید.
با عضویت در سیویلیکا می توانید اصل مقالات را با حداقل ۳۳ درصد تخفیف (دو سوم قیمت خرید تک مقاله) دریافت نمایید. برای عضویت در سیویلیکا به صفحه ثبت نام مراجعه نمایید. در صورتی که دارای نام کاربری در مجموعه سیویلیکا هستید، ابتدا از قسمت بالای صفحه با نام کاربری خود وارد شده و سپس به این صفحه مراجعه نمایید.
لطفا قبل از اقدام به خرید اینترنتی این مقاله، ابتدا تعداد صفحات مقاله را در بالای این صفحه کنترل نمایید. در پایگاه سیویلیکا عموما مقالات زیر ۵ صفحه فولتکست محسوب نمی شوند و برای خرید اینترنتی عرضه نمی شوند.
برای راهنمایی کاملتر راهنمای سایت را مطالعه کنید.

خرید و دانلود PDF مقاله

با استفاده از پرداخت اینترنتی بسیار سریع و ساده می توانید اصل این مقاله را که دارای ۴ صفحه است در اختیار داشته باشید.

قیمت این مقاله : ۳۰,۰۰۰ ریال

آدرس ایمیل خود را در زیر وارد نموده و کلید خرید با پرداخت اینترنتی را بزنید. آدرس ایمیل:

رفتن به مرحله بعد:

در صورت بروز هر گونه مشکل در روند خرید اینترنتی، بخش پشتیبانی کاربران آماده پاسخگویی به مشکلات و سوالات شما می باشد.

مشخصات نویسندگان مقاله بررسی تاثیرات میدان مغناطیسی بر روی لایه های نازک مس انباشته شده توسط پراکنش میدان مغناطیسی DC

  اشرف السادات میرکمالی - گروه فیزیک ، دانشگاه آزاد اسلامی واحد بهشهر،بهشهر، ایران
  محمود صابونی - گروه فیزیک ، دانشگاه آزاد اسلامی واحد شاهرود، شاهرود، ایران
  امیرمسعود صادقی - دانشکده فیزیک دانشگاه صنعتی شاهرود ، بلوار دانشگاه ، شاهرود ، ایران
رزیتسا یاکی موا - انستیتوی فیزیک و تکنولوژی سنجش دانشگاه لینشوپینگ ، لینشوپینگ ، سو

چکیده مقاله:

در این مقاله تغییرات میدان مغناطیسی خارجی اعمال شده به دستگاه DC مگنترون، برای انباشت لایه های نازک مس روی شیشه مورد بررسی قرار گرفته است . با استفاده از میکروسکوپ پروپ روبشی 1 اندازه دانه ها، توپوگرافی وزمختی لایه ها بررسی شدند . ساختار لایه های نازک تهیه شده و اندازه بلورک ها با روش پراش پرتوهای ایکس 2 تعیین شد . همچنین ضخامت لایه های انباشت شده با کمک روش پس پراکندگی رادرفورد 3 مورد بررسی قرار گرفت . با استفاده از نتایج حاصل از این آنالیزها ، اندازه بلورک ها و ضخامت لایه ها تعیین شد . آزمایش های انجام شده بیانگر کاهش زمختی و افزایش ضخامت لایه ها همراه با افزایش میدان مغناطیسی وآهنگ انباشت بوده است . همچنین با گرم کردن زیرلایه ها با روش بازپخت، در جهت های ترجیحی (111) و (200) رشد مشاهده کردیم بعلاوه افزایش اندازه دانه ها و میزان زمختی سطح لایه ها همراه با کاهش ضخامت بعد از بازپخت بوده اند

کلیدواژه‌ها:

کد مقاله/لینک ثابت به این مقاله

برای لینک دهی به این مقاله، می توانید از لینک زیر استفاده نمایید. این لینک همیشه ثابت است و به عنوان سند ثبت مقاله در مرجع سیویلیکا مورد استفاده قرار میگیرد:
https://www.civilica.com/Paper-IPC86-IPC86_267.html
کد COI مقاله: IPC86_267

نحوه استناد به مقاله:

در صورتی که می خواهید در اثر پژوهشی خود به این مقاله ارجاع دهید، به سادگی می توانید از عبارت زیر در بخش منابع و مراجع استفاده نمایید:
میرکمالی, اشرف السادات؛ محمود صابونی؛ امیرمسعود صادقی و رزیتسا یاکی موا، ۱۳۸۶، بررسی تاثیرات میدان مغناطیسی بر روی لایه های نازک مس انباشته شده توسط پراکنش میدان مغناطیسی DC، کنفرانس فیزیک ایران 1386، دانشگاه یاسوج، https://www.civilica.com/Paper-IPC86-IPC86_267.html

در داخل متن نیز هر جا که به عبارت و یا دستاوردی از این مقاله اشاره شود پس از ذکر مطلب، در داخل پارانتز، مشخصات زیر نوشته می شود.
برای بار اول: (میرکمالی, اشرف السادات؛ محمود صابونی؛ امیرمسعود صادقی و رزیتسا یاکی موا، ۱۳۸۶)
برای بار دوم به بعد: (میرکمالی؛ صابونی؛ صادقی و یاکی موا، ۱۳۸۶)
برای آشنایی کامل با نحوه مرجع نویسی لطفا بخش راهنمای سیویلیکا (مرجع دهی) را ملاحظه نمایید.

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :

  • W.Reuter and J. E. Baglin, J.Vac. Sci. Technol. 18, 282 ...
  • Ramesh Chandra, Amit Kumar Chawla, Davinder Kaur and Ayyab, Nano ...
  • H. Savaloni _ M. A. Player, E. Gu and G. ...
  • L. V. Azaroff , " Elements of X-Ray Crystallog raphy", ...
  • H. Savaloni; "Surface In Na notechnology" _ edition, University of ...
  • M. Ghoranneviss, K. Yasserian, H. R. Pourbalasi, XXVIIth ICPIG, Eindhoren ...
  • علم سنجی و رتبه بندی مقاله

    مشخصات مرکز تولید کننده این مقاله به صورت زیر است:
    نوع مرکز:
    تعداد مقالات: ۱۸۹
    در بخش علم سنجی پایگاه سیویلیکا می توانید رتبه بندی علمی مراکز دانشگاهی و پژوهشی کشور را بر اساس آمار مقالات نمایه شده مشاهده نمایید.

    مدیریت اطلاعات پژوهشی

    اطلاعات استنادی این مقاله را به نرم افزارهای مدیریت اطلاعات علمی و استنادی ارسال نمایید و در تحقیقات خود از آن استفاده نمایید.

    مقالات مرتبط جدید

    شبکه تبلیغات علمی کشور

    به اشتراک گذاری این صفحه

    اطلاعات بیشتر درباره COI

    COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
    کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.