CIVILICA We Respect the Science
ناشر تخصصی کنفرانسهای ایران
عنوان
مقاله

رشد و مشخصه یابی نانوساختارهای آهن و مس برروی نیمرسانایn-Si وp-Si

اعتبار موردنیاز : ۱ | تعداد صفحات: ۴ | تعداد نمایش خلاصه: ۶۷۷ | نظرات: ۰
سرفصل ارائه مقاله: ماده چگال
سال انتشار: ۱۳۸۷
نوع ارائه: پوستر
کد COI مقاله: IPC87_354
زبان مقاله: فارسی
حجم فایل: ۲۸۵.۸۳ کیلوبایت (فایل این مقاله در ۴ صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد)

راهنمای دانلود فایل کامل این مقاله

اگر در مجموعه سیویلیکا عضو نیستید، به راحتی می توانید از طریق فرم روبرو اصل این مقاله را خریداری نمایید.
با عضویت در سیویلیکا می توانید اصل مقالات را با حداقل ۳۳ درصد تخفیف (دو سوم قیمت خرید تک مقاله) دریافت نمایید. برای عضویت در سیویلیکا به صفحه ثبت نام مراجعه نمایید. در صورتی که دارای نام کاربری در مجموعه سیویلیکا هستید، ابتدا از قسمت بالای صفحه با نام کاربری خود وارد شده و سپس به این صفحه مراجعه نمایید.
لطفا قبل از اقدام به خرید اینترنتی این مقاله، ابتدا تعداد صفحات مقاله را در بالای این صفحه کنترل نمایید.
برای راهنمایی کاملتر راهنمای سایت را مطالعه کنید.

خرید و دانلود فایل مقاله

با استفاده از پرداخت اینترنتی بسیار سریع و ساده می توانید اصل این مقاله را که دارای ۴ صفحه است در اختیار داشته باشید.

قیمت این مقاله : ۳,۰۰۰ تومان

آدرس ایمیل خود را در کادر زیر وارد نمایید:

مشخصات نویسندگان مقاله رشد و مشخصه یابی نانوساختارهای آهن و مس برروی نیمرسانایn-Si وp-Si

  عبدالعلی ذوالانواری - گروه فیزیک دانشکده علوم دانشگاه اراک
  جعفر نظام دوست - گروه فیزیک دانشکده علوم دانشگاه اراک - جهاد دانشگاهی
  حسین صادقی - گروه فیزیک دانشکده علوم دانشگاه اراک

چکیده مقاله:

در این مقاله رشد و مشخصه یابی نانو ساختارهای آهن و مس بر روی زیر لایه ها ئی از جنس سیلیکون ( 100 ) و ( 111 ) از نوع n و p با ضخامتهای 150-50 نانومتر برای آهن و 200-5 نانومتر برای مس، مورد مطالعه قرار گرفته است. از روی تصاویر AFM زبری، راستای چینه بندی و سایر پارام ترهای ساختاری مربوط به لایه ها ی نازک آهن و مس محاسبه و چگونگی تغییر زبری در اثر تغییر ضخامت و شرایط رشد را مورد مطالعه قرار میدهیم. ریشه ی میانگین مربعی (RMS) یا زبری در ابعاد 5×5 میکرومتر محاسبه شد که با در نظر گرفتن زاویه بین راستای چینه بندی و محور y (45°) ، مقدار RMS بترتیب برای آهن و مس 1/5-0/5 نانومتر و 2-1 نانومتر محاسبه گردیده است. خواص الکتریکی این لایه ها نیز به کمک ابزار Four Point Probe (FP) مورد تجزیه و تحلیل قرار گرفت.

کلیدواژه‌ها:

کد مقاله/لینک ثابت به این مقاله

برای لینک دهی به این مقاله، می توانید از لینک زیر استفاده نمایید. این لینک همیشه ثابت است و به عنوان سند ثبت مقاله در مرجع سیویلیکا مورد استفاده قرار میگیرد:
https://www.civilica.com/Paper-IPC87-IPC87_354.html
کد COI مقاله: IPC87_354

نحوه استناد به مقاله:

در صورتی که می خواهید در اثر پژوهشی خود به این مقاله ارجاع دهید، به سادگی می توانید از عبارت زیر در بخش منابع و مراجع استفاده نمایید:
ذوالانواری, عبدالعلی؛ جعفر نظام دوست و حسین صادقی، ۱۳۸۷، رشد و مشخصه یابی نانوساختارهای آهن و مس برروی نیمرسانایn-Si وp-Si، کنفرانس فیزیک ایران 1387، کاشان، دانشگاه کاشان، https://www.civilica.com/Paper-IPC87-IPC87_354.html

در داخل متن نیز هر جا که به عبارت و یا دستاوردی از این مقاله اشاره شود پس از ذکر مطلب، در داخل پارانتز، مشخصات زیر نوشته می شود.
برای بار اول: (ذوالانواری, عبدالعلی؛ جعفر نظام دوست و حسین صادقی، ۱۳۸۷)
برای بار دوم به بعد: (ذوالانواری؛ نظام دوست و صادقی، ۱۳۸۷)
برای آشنایی کامل با نحوه مرجع نویسی لطفا بخش راهنمای سیویلیکا (مرجع دهی) را ملاحظه نمایید.

علم سنجی و رتبه بندی مقاله

مشخصات مرکز تولید کننده این مقاله به صورت زیر است:
نوع مرکز: دانشگاه دولتی
تعداد مقالات: ۲۹۰۳
در بخش علم سنجی پایگاه سیویلیکا می توانید رتبه بندی علمی مراکز دانشگاهی و پژوهشی کشور را بر اساس آمار مقالات نمایه شده مشاهده نمایید.

مدیریت اطلاعات پژوهشی

اطلاعات استنادی این مقاله را به نرم افزارهای مدیریت اطلاعات علمی و استنادی ارسال نمایید و در تحقیقات خود از آن استفاده نمایید.

شبکه تبلیغات علمی کشور

به اشتراک گذاری این صفحه

اطلاعات بیشتر درباره COI

COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.