بررسی خواص نوری لایه های نازک اکسید ایندیم قلع

در این پژوهش لایه نازک اکسید ایندیوم قلع به روش تبخیر با پرتو الکترونی بر روی بستره ی شش های تمییز شده در دمای اتاق تهیه شده و سپس لایه در دمای 400oC به مدت 1 ساعت در مجاورت هوا بازپخت شده است. ویژگیهای لایه به وسیله ی پراش اشعه ی ایکس (XRD) مورد بررسی قرار گرفته است. طیفهای نوری بازتاب و تراگسیل در محدوده ی طول موجی 2500-250 نانومتر ثبت شده است. نتایج حاصل از XRD ساختار بلوری بعد از باز پخت و ساختار بی شکل قبل از آن را تائید میکند.اندازه گیریهای طیف سنجی شفافیت بالای %80را در ناحیه ی مرئی نشان می دهد. همچنین برخی خواص اپتیکی نظیر جذب و گاف نوار انرژی محاسبه شده است.

کلیدواژه ها:

لایه های نازک ، اکسید ایندیم قلع