An approach for the study of reliability for a MEMS magnetic actuator

سال انتشار: 1388
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: انگلیسی
مشاهده: 1,998

متن کامل این مقاله منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل مقاله (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

ISCEE12_213

تاریخ نمایه سازی: 29 اسفند 1387

چکیده مقاله:

This paper presents a summary of the design for reliability and the reliability test procedures used for the design, fabrication and testing of a MEMS magnetic actuator. The MEMS device reliability is determined incorporating device structure, its fabrication process, the packaging, & their interacting contributions. The goal of the MEMS actuator reliability design task is to increase the probability of failure free operation of a MEMS based system for a specified time period and the use environment. The design for reliability and the subsequent reliability testing procedures are used to determine the reliability of the MEMS actuator and enable the determination of the reliability of the final product that the MEMS device is becoming part of.

نویسندگان

S Yousef Shafiey

Electrical Engineering Department, Islamic Azad University - Tabriz Branch, Tabriz, Iran

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • JEDEC 122C, Failure mechanisms and models for semic onductor devices. ...
  • A. V arvani-Farah ani, Silicon MEMS components _ a fatigue ...
  • S.B. Brown et al, Materials Reliability In MEMS Devices, Transducers ...
  • A.B.. Sontheimer, Digital micromirror device (DMD) hinge memory lifetime reliability ...
  • Mil-Hdbk-2 17F(1) Reliability Prediction of Electronic Equipment - Notice 1 ...
  • Mil-Hdbk-2 17F(2). Reliability Equipment - Notice 2 - 28 February ...
  • Mil-Hdbk-2 17F Reliability Prediction of Electronic Equipment - Revision F ...
  • Mil-Hdbk- 338B Electronic Reliability Design Handbook _ Revision B _ ...
  • Mi l-Hdbk-470A Designing and Developing Maintainable Products and Systems - ...
  • Mil-Hdbk-78 1A Handbook for Reliability Test Methods, Plans, and Environments ...
  • نمایش کامل مراجع