یک روش خود آزمون تو کار مبتنی بر IEEE 1149.1 برای آزمایش at- speed لینکهای ارتباطی بین سوئیچ های شبکه بر تراشه با استفاده از مدل MVT

سال انتشار: 1391
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 775

فایل این مقاله در 7 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

ISFAHANELEC01_078

تاریخ نمایه سازی: 23 اسفند 1392

چکیده مقاله:

با پیشرفت تکنولوژی و افزایش فرکانس در محدوده GHz+ طراحی و آزمایش اتصالات از اهمیت برخوردار است. در این مقال ما یک نمادی پیمایش مرزی مبتنی بر خود آزمون پشتکار پیشنهاد داده‌ایم که با استفاده از آن اشکالات هم شنوایی لینکهای ارتباطی بین سوئیچ های شبکه - بر- پراش تحت آزمایش با سرعت عمل کردی تراشه قرار می‌گیرند. این معماری شامل سلول‌های تغییر یافته جهت تولید الگوهای آزمایش مدل MVT آنالیز پاسخ‌های باز باشد. به‌منظور سازگاری کامل با استاندارد IEEE 1149.1 یک دستورالعمل جدید نیز جهت کنترل سلول‌ها و عملیات پیمایش در مد آزمایش با سرعت عمل کردی تراشه استفاده شده است.

نویسندگان

رضا نورمندی پور

عضو هیئت علمی گروه کامپیوتر - دانشگاه آزاد اسلامی واحد سیرجان

نفیسه موسویان

دانشجوی مقطع دکتری

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • یک روش خود آزمون توکار کاملأ موازی برای آزمایش اشکالات همشنوایی اتصالات شبکه-بر-تراشه [مقاله کنفرانسی]
  • نورمندی پور، رضا؛ خادم زاده، احمد؛ رحمانی، امیر مسعود؛ " ...
  • _ Magarshak, P. G. Paulin, _ _ System-on-Ch ip beyond ...
  • Z. L. Pan, L. Chen, 4Test Method for Crosstalk Faults ...
  • Z. L. Pan, L. Chen, " Test Generation for Glitch ...
  • Y. Joonhwan, J.P. Hayes, "High-level delay test circuits" ...
  • Transactions on Computer- Aided Design of Lutegrated Circuits _ _, ...
  • A. K. Palit, K. K. Duganapalli, W.Anheier, " Crosstalk fault ...
  • A. Sinha, S.K.Gupta, M.A. breuer, " Validation and Test Generation ...
  • M. H. Tehranipour, N. Ahmed, M. Nourani, "Testing SOC Interconnects ...
  • W. Tseng, T. Chien. _ self-test structure for crosstalk fault ...
  • C. Sunghoon, K. Yongjoon, K. Sungho. "MDSI: Signal ...
  • Applications, Vol.23, No.4, 2007, pp.357-362. ...
  • C. Crecu, A. Ivanov, R. Saleh, P. P. Pande, "Testing ...
  • IEEE Standard 1 149. 1-2001 , "Standard Test Access Port ...
  • M. H. Tehranipour, N. Ahmed and M. Nourani, "Testing SOC ...
  • C. Grecu, P. Pande, A. Ivanov, and R. Saleh, "Timing ...
  • نمایش کامل مراجع