ارزیابی رفتار خوردگی پوشش نانو کامپوزیت پلی آمید ایمید پایه حلال / رس

در این پژوهش، نانو کامپوزیت های پلی آمید ایمید پایه حلال SBP رس C20A با درصد وزنی های صفر، 3 و 5 درصد وزنی به روش محلولی تهیه شدند. مشخصه یابی پوشش ها با استفاده از میکروسکپ الکترونی روبشی گسیل میدانی FE-SEM و طیف سنجی پراش انرژی پرتو ایکس انجام شد. خواص خوردگی پوشش ها با ازمون پلاریزاسیون پتانسیودنیامیک تافل و طیف سنجی امپدانس الکتروشیمیایی EIS مورد بررسی قرار گرفتند. نتایج پلاریزاسیون پتانسیودنیامیک تافل و طیف سنجی امپدانس الکتروشیمیایی نشان داد که با افزودن نانو رس مقاومت به خوردگی پوشش را بهبود می بخشد و بهترین عملکرد پوشش در نانو کامپوزیت 3 درصد وزنی رس حاصل می شود.

کلیدواژه ها:

پلی آمید ایمید ، نانو رس ، نانو کامپوزیت ، تافل ، طیف سنجی امپدانس الکتروشیمیایی