روش Lp متریک در طراحی پارامتر استوار

سال انتشار: 1387
نوع سند: مقاله ژورنالی
زبان: فارسی
مشاهده: 939

فایل این مقاله در 8 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

JR_IJIE-19-4_006

تاریخ نمایه سازی: 6 شهریور 1393

چکیده مقاله:

پس از استفاده از نگرش متدولوژی سطح پاسخ RSM در بحث طراحی پارامتر استوار RPD ، با دو معادله μy و σy روبرو می شویم که باید در آن مقادیر عوامل کنترل بگونه ای تعیین گردند که دو تابع هدف تا حد امکان به مقادیر ایده آل شان نزدیک باشند. برای رسیدن به این مقصود روش Lp متریک در این زمینه ارایه و دریک مثال عددی حداکثر - بهتر تحلیل حساسیت آن صورت گرفته است. همچنین در این مقاله اثر نادیده گرفتن عوامل اغتشاش غیر قابل کنترل در مرحله آزمایش در تخمین ضرایب و در جابجایی نقطه بهینه مورد تحلیل قرار گرفته است .

نویسندگان

رسول نورالنساء

عضو هیات علمی دانشکده صنایع ، دانشگاه علم و صنعت ایران

مصطفی کمالی اردکانی

دانشجوی دکتری مهندسی صنایع، دانشگاه علم و صنعت ایران