CIVILICA We Respect the Science
(ناشر تخصصی کنفرانسهای کشور / شماره مجوز انتشارات از وزارت فرهنگ و ارشاد اسلامی: ۸۹۷۱)
عنوان
مقاله

تاثیر انواع مکانیزم های شکست برروی قابلیت اطمینان مدارهای آنالوگ

اعتبار موردنیاز PDF: ۱ | تعداد صفحات: ۱۵ | تعداد نمایش خلاصه: ۱۸۷ | نظرات: ۰
سال انتشار: ۱۳۹۴
کد COI مقاله: MAARS01_141
زبان مقاله: فارسی
حجم فایل: ۲۴۹.۰۴ کیلوبایت (فایل این مقاله در ۱۵ صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد)

راهنمای دانلود فایل کامل این مقاله

متن کامل این مقاله دارای ۱۵ صفحه در فرمت PDF قابل خریداری است. شما می توانید از طریق بخش روبرو فایل PDF این مقاله را با پرداخت اینترنتی ۳۰,۰۰۰ ریال بلافاصله دریافت فرمایید
قبل از اقدام به دریافت یا خرید مقاله، حتما به فرمت مقاله و تعداد صفحات مقاله دقت کامل را مبذول فرمایید.
علاوه بر خرید تک مقاله، می توانید با عضویت در سیویلیکا مقالات را به صورت اعتباری دریافت و ۲۰ تا ۳۰ درصد کمتر برای دریافت مقالات بپردازید. اعضای سیویلیکا می توانند صفحات تخصصی شخصی روی این مجموعه ایجاد نمایند.
برای راهنمایی کاملتر راهنمای سایت را مطالعه کنید.

خرید و دانلود فایل PDF مقاله

با استفاده از پرداخت اینترنتی بسیار سریع و ساده می توانید اصل این مقاله را که دارای ۱۵ صفحه است به صورت فایل PDF در اختیار داشته باشید.
آدرس ایمیل خود را در کادر زیر وارد نمایید:

مشخصات نویسندگان مقاله تاثیر انواع مکانیزم های شکست برروی قابلیت اطمینان مدارهای آنالوگ

  شیوا تقی پور - کارشناسی ارشد برق الکترونیک ،دانشگاه گیلان
  عارفه حسین پور - کارشناسی ارشد برق الکترونیک ،دانشگاه گیلان
  راهبه نیارکی اصلی - استادیار دانشگاه گیلان

چکیده مقاله:

امروزه با توجه به روند توسعه تکنولوژی ساخت نیمه هادی، کاهش مقیاس تکنولوژی، کاهش سطوح ولتاژ و افزایش پیچیدگی سیستم ها، مسئله قابلیت اطمینان و مقاوم بودن سیستم های الکترونیکی در برابر شکست های مختلف، به نگرانی اصلی فعالان این حوزه تبدیل شده است. به طور مثال در زمینه های فضایی که یکی از پر کاربردی ترین مسائل روز دنیا به شمار می آیند، تشعشات یکی از عامل شکست بسیار مهم برای مدارهای موارد استفاده، از جمله مدارهای انالوگ محسوب می شوند. بنابراین در این مدارات مفهوم قابلیت اطمینان و انواع مکانیزم های شکست و چگونگی تأثیرگذاری این عوامل بر روی قابلیت اطمینان بسیار دارای اهمیت است. با توجه به تحقیقات زیادی که در زمینه قابلیت اطمینان صورت گرفته است، بررسی و تحلیل عددی تأثیر مکانیزم هایی شکست برگ قابلیت اطمینان مدارات آنالوگ صورت نپذیرفته است. هدف ما در این مقاله کوشش این مفهوم به صورت کامل و جمع بندی انواع این مکانیزم ها می باشد.در این مقاله، به تحلیل قابلیت اطمینان مدارهای آنالوگ در برابر انواع مکانیزم های شکست می پردازیم. است در این راستا محاسبات عددی قابلیت اطمینان را مورد توجه قرار داد و مقایسه ای را قبل و بعد از اعمال و خطای ناشی از انواع مکانیزم های شکست بر روی مدار تحت ازمون که وارونگر CMOS می باشد،انجام میدهیم. شبیه سازی های انجام شده در HSPICE در تکنولوژی 45 نانومتر TSMC ارائه شده است.

کلیدواژه‌ها:

تشعشات فضایی، قابلیت اطمینان، مدارهای آنالوگ ، مکانیزم های شکست،وارونگر

کد مقاله/لینک ثابت به این مقاله

برای لینک دهی به این مقاله، می توانید از لینک زیر استفاده نمایید. این لینک همیشه ثابت است و به عنوان سند ثبت مقاله در مرجع سیویلیکا مورد استفاده قرار میگیرد:
https://www.civilica.com/Paper-MAARS01-MAARS01_141.html
کد COI مقاله: MAARS01_141

نحوه استناد به مقاله:

در صورتی که می خواهید در اثر پژوهشی خود به این مقاله ارجاع دهید، به سادگی می توانید از عبارت زیر در بخش منابع و مراجع استفاده نمایید:
تقی پور, شیوا؛ عارفه حسین پور و راهبه نیارکی اصلی، ۱۳۹۴، تاثیر انواع مکانیزم های شکست برروی قابلیت اطمینان مدارهای آنالوگ، همایش یافته های نوین در هوافضا و علوم وابسته، تهران، دانشکده علوم و فنون نوین دانشگاه تهران، https://www.civilica.com/Paper-MAARS01-MAARS01_141.html

در داخل متن نیز هر جا که به عبارت و یا دستاوردی از این مقاله اشاره شود پس از ذکر مطلب، در داخل پارانتز، مشخصات زیر نوشته می شود.
برای بار اول: (تقی پور, شیوا؛ عارفه حسین پور و راهبه نیارکی اصلی، ۱۳۹۴)
برای بار دوم به بعد: (تقی پور؛ حسین پور و نیارکی اصلی، ۱۳۹۴)
برای آشنایی کامل با نحوه مرجع نویسی لطفا بخش راهنمای سیویلیکا (مرجع دهی) را ملاحظه نمایید.

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :

  • (1) L.A. Naviner, J.-F. Naviner, G.S. Gutemberg, et al.: "Reliability ...
  • (3) John H. Lienard IV _ " A Heat Transfer ...
  • (4) Chih-Yang Chen, Jam-Wem Lee, Shen-De Wang, et al.: "Negative ...
  • (5) Dieter K. Schroder: "Negative Bias Temperature Instability (NBTI) Physics, ...
  • (6) R.K. Mishra, A. Pandey, S. Alam : "Analysis and ...
  • (7) V. Huard et al. "Evidence for Hydro gen-Related Defects ...
  • (9) J. R. Lloyd: "Electro migration for Designers: An Introduction ...
  • (10) A. Dasgupta, R. Karri: "Electro migration Reliability Enhancement Via ...
  • (12) JEP122G: "Failure Mechanisms and Models for S emiconductor Devices. ...
  • (13) Takeda: :Hot carrier effect", Nikkei McGraw-Hil, Inc. 1987. ...
  • (14) T. H. Ning: "Hot-carrier Emission Currents in N-channel IGFET's, ...
  • (15) G. Groeseneken, R. Bellens, G. Van den bosch, et ...
  • (16) G. Groeseneken, R. Degraeve, T. Nigam, et al.: "Hot ...
  • (18) C. K. Hu, R. Rosenberg H. S. Rathore, et ...
  • علم سنجی و رتبه بندی مقاله

    مشخصات مرکز تولید کننده این مقاله به صورت زیر است:
    نوع مرکز: دانشگاه دولتی
    تعداد مقالات: ۹۴۱۲
    در بخش علم سنجی پایگاه سیویلیکا می توانید رتبه بندی علمی مراکز دانشگاهی و پژوهشی کشور را بر اساس آمار مقالات نمایه شده مشاهده نمایید.

    مدیریت اطلاعات پژوهشی

    اطلاعات استنادی این مقاله را به نرم افزارهای مدیریت اطلاعات علمی و استنادی ارسال نمایید و در تحقیقات خود از آن استفاده نمایید.

    مقالات پیشنهادی مرتبط

    مقالات مرتبط جدید

    شبکه تبلیغات علمی کشور

    به اشتراک گذاری این صفحه

    اطلاعات بیشتر درباره COI

    COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
    کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.