CIVILICA We Respect the Science
(ناشر تخصصی کنفرانسهای کشور / شماره مجوز انتشارات از وزارت فرهنگ و ارشاد اسلامی: ۸۹۷۱)
عنوان
مقاله

مروری بر روش های ارزیابی تاثیر خطای های محیط هوافضا بر میکروالکترونیک و ارائه بستر تست خطای SEE

اعتبار موردنیاز PDF: ۱ | تعداد صفحات: ۱۹ | تعداد نمایش خلاصه: ۱۷۵ | نظرات: ۰
سال انتشار: ۱۳۹۴
کد COI مقاله: MAARS01_221
زبان مقاله: فارسی
حجم فایل: ۵۲۴.۷ کیلوبایت (فایل این مقاله در ۱۹ صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد)

راهنمای دانلود فایل کامل این مقاله

متن کامل این مقاله دارای ۱۹ صفحه در فرمت PDF قابل خریداری است. شما می توانید از طریق بخش روبرو فایل PDF این مقاله را با پرداخت اینترنتی ۳,۰۰۰ تومان بلافاصله دریافت فرمایید
قبل از اقدام به دریافت یا خرید مقاله، حتما به فرمت مقاله و تعداد صفحات مقاله دقت کامل را مبذول فرمایید.
علاوه بر خرید تک مقاله، می توانید با عضویت در سیویلیکا مقالات را به صورت اعتباری دریافت و ۲۰ تا ۳۰ درصد کمتر برای دریافت مقالات بپردازید. اعضای سیویلیکا می توانند صفحات تخصصی شخصی روی این مجموعه ایجاد نمایند.
برای راهنمایی کاملتر راهنمای سایت را مطالعه کنید.

خرید و دانلود فایل PDF مقاله

با استفاده از پرداخت اینترنتی بسیار سریع و ساده می توانید اصل این مقاله را که دارای ۱۹ صفحه است به صورت فایل PDF در اختیار داشته باشید.
آدرس ایمیل خود را در کادر زیر وارد نمایید:

مشخصات نویسندگان مقاله مروری بر روش های ارزیابی تاثیر خطای های محیط هوافضا بر میکروالکترونیک و ارائه بستر تست خطای SEE

  رضا امیدی - استادیار دانشکده فنی مهندسی، دانشگاه زنجان، ایران

چکیده مقاله:

با گسترش روند تجاری سازی صنایع هوافضا و در راستای کاهش هزینه تمام شده ، استفاده از قطعات تجاری در بخش های مختلف از جمله میکروالکترونیک ماهواره ها ، فضاپیما ها، ماهواره برها و صنایع وابسته به شدت گسترش یافته است . اما استفاده از قطعات تجاری در صنایع هوافضا ملاحظات و مسائل خاصی می طلبد . در این مقاله، با مروری مختصر بر دغدغه های میکروالکترونیک در صنایع هوافضا، به بحث و بررسی خطاهای نظم ناشی از تشعشعات فضایی پرداخت شده است. برای مدل سازی اینو خطاها، روش های مختلفی در مراجع مطرح شده است. این رویکردها، به صورت کامل دسته بندی و مرور گردیده و مزایا و معایب هر یک از آن ها توصیف شده است. همچنین اصول و نتایج پیاده سازی یک رویکرد مبتنی بر سخت افزار در این مقاله ارائه شده است. بستر سخت افزاری ارائه شده برای تست انواع خطاهای واژگونی دائمی یک یا چند بیت ، خطاهای گذرا و غیر قابل استفاده می باشد. روش تعیین مقدار عددی قابلیت اطمینان بر اساس نتایج حاصل از تزریق خطا نیز ارائه شده است. از بستر ارائه شده برای تست مدارهای محک استاندارد و طراحی های مقاوم از جمله ضرب کننده های مقابل استفاده شده است که بخشی از نتایج تست در این مقاله ارائه گردیده است.

کلیدواژه‌ها:

ماهواره ها،میکروالکترونیک، تشعشعات فضایی،تست خطاهای نرم

کد مقاله/لینک ثابت به این مقاله

برای لینک دهی به این مقاله، می توانید از لینک زیر استفاده نمایید. این لینک همیشه ثابت است و به عنوان سند ثبت مقاله در مرجع سیویلیکا مورد استفاده قرار میگیرد:
https://www.civilica.com/Paper-MAARS01-MAARS01_221.html
کد COI مقاله: MAARS01_221

نحوه استناد به مقاله:

در صورتی که می خواهید در اثر پژوهشی خود به این مقاله ارجاع دهید، به سادگی می توانید از عبارت زیر در بخش منابع و مراجع استفاده نمایید:
امیدی, رضا، ۱۳۹۴، مروری بر روش های ارزیابی تاثیر خطای های محیط هوافضا بر میکروالکترونیک و ارائه بستر تست خطای SEE، همایش یافته های نوین در هوافضا و علوم وابسته، تهران، دانشکده علوم و فنون نوین دانشگاه تهران، https://www.civilica.com/Paper-MAARS01-MAARS01_221.html

در داخل متن نیز هر جا که به عبارت و یا دستاوردی از این مقاله اشاره شود پس از ذکر مطلب، در داخل پارانتز، مشخصات زیر نوشته می شود.
برای بار اول: (امیدی, رضا، ۱۳۹۴)
برای بار دوم به بعد: (امیدی، ۱۳۹۴)
برای آشنایی کامل با نحوه مرجع نویسی لطفا بخش راهنمای سیویلیکا (مرجع دهی) را ملاحظه نمایید.

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :

  • R. Velazco, P. Fouillat and R. A. daluzreis. Radiation effects ...
  • F. L. Kastensmidt, L. Carro and R. Reis. Fault- tolerance ...
  • Department of Defense with the assistance of the military depements, ...
  • National Aeronautics and Space Admini stration (NASA) Standards and specifications, ...
  • Xilinx, Inc. Space-grade Product Families, http : _ xilinx .com/applic ...
  • George H. Ludwig _ First Explorer Satellites". University of Iowa, ...
  • "Workshops On Radiation Monitoring for the Internationl Space Station", The ...
  • A. G. Holme s-Siedle, J. O. Goldsten, R. H. Maurer ...
  • Libelium, Inc. "Libelium Teas with Nanosatisfi to Launch the :Iteret ...
  • T. P. Ma and P. V Dressendorfe. Ionizing radiation effects ...
  • O. Geschke, H. Rocher, A. No]l, J. Dreute, B. Wiegel, ...
  • H. T. Mebrahtu, Heavy ion radiation effects on CMOS image ...
  • S.Clerc, F. Abouzeid, G. Gasiot, J. M. Daveau, C. Bottoni, ...
  • K. Haque and P. Beckett.، _ ation-Hard Field- Programmable Gate ...
  • R. Omidi Gosheblagh and K. Mohammadi, "Designing and implementing a ...
  • R. Omidi Gosheblagh and K. Mohammadi, "Hybrid time and hardware ...
  • R. Omidi Gosheblagh and K. Mohammadi, :SEU secure parity prediction ...
  • F. Smmith. "Single event upset mitigation by means of a ...
  • L. Ciani and M. Catelani. _ fault tolerant architecture to ...
  • L. Sterpone, M. Sonzareorda, M. Violante, L. Kastensmidt and L. ...
  • H. R. Zarandi and S. G. Miremad.، 'Dependability evaluation of ...
  • A. Krasniewski :Concurret error detection for finite state machines implemented ...
  • رضا امیدی و کریم محمدی، " تعیین آهنگ خطای واژگونی ... (مقاله ژورنالی)
  • ESA's Space Environment Information System, https _ penvis.oma. _ ...
  • G. Falzetta, F.. Longo and A. Zanini, :GEANT4 and CREME96 ...
  • R. A. R. Shafik and B M. Al-Hashimi. "SystenC-B ased ...
  • E. A. Jenn, M. Rimen, J. Ohlsson and J. Karlsson. ...
  • L. O. Celia, G. V. Mario, P. G. Marta and ...
  • E. Johnson, M. Caffrey, P. Graham, N. Rollins and M ...
  • A. Ejlali and Ghassem S. Miremadi. "FPGA-based fault injection into ...
  • H. M. Quinn, P. S. Graham, M. J. Wirthlin, B. ...
  • P. Schumacher. SEU emulation environmen. Xilinx Whit Paper: WP414 April ...
  • novel simulation fault injection method for dependability Aء، [36] L. ...
  • L. Sterpone and M. Violante. _ new reliability- oriented place ...
  • O. Goloubeva, M. Rebaudengo, M. Sonza and M Violante. Software- ...
  • P. M. H. Lee and . Sedaghat. "FPGA-based switch-level fault ...
  • R. Omidi Gosheblagh and K. Mohammadi, :New approach to emulate ...
  • R. Omidi Gosheblagh and K. Mohammadi, ،0Three-Level Management Algorithm to ...
  • علم سنجی و رتبه بندی مقاله

    مشخصات مرکز تولید کننده این مقاله به صورت زیر است:
    نوع مرکز: دانشگاه دولتی
    تعداد مقالات: ۶۸۵۲
    در بخش علم سنجی پایگاه سیویلیکا می توانید رتبه بندی علمی مراکز دانشگاهی و پژوهشی کشور را بر اساس آمار مقالات نمایه شده مشاهده نمایید.

    مدیریت اطلاعات پژوهشی

    اطلاعات استنادی این مقاله را به نرم افزارهای مدیریت اطلاعات علمی و استنادی ارسال نمایید و در تحقیقات خود از آن استفاده نمایید.

    مقالات پیشنهادی مرتبط

    مقالات مرتبط جدید

    شبکه تبلیغات علمی کشور

    به اشتراک گذاری این صفحه

    اطلاعات بیشتر درباره COI

    COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
    کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.