آنالیز حساسیت توان خروجی از لایه پیزوالکتریک میکروتیر خود اندازه گیر

سال انتشار: 1395
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 422

فایل این مقاله در 7 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

MMEE01_006

تاریخ نمایه سازی: 11 مرداد 1396

چکیده مقاله:

پیدایش علم نانو توجه زیادی را به تکنولوژیهایی که قادر به بررسی پدیدههای فیزیکی در مقیاسهای طولی اتمی هستند، معطوف نموده و پیشرفتهای اخیر در این زمینه، منجر به تولید تجهیزات فنی با قابلیت اندازهگیری، اصلاح و تصویرسازی در مقیاسهای نانو گردیده است. یکی از شناخته شدهترین این وسایل، میکروسکوپ نیروی اتمی است. در این مقاله آنالیز حساسیت توان خروجی از لایه پیزوالکتریک میکروتیر خود اندازه برای یک تیر سه لایه متقارن انجام و همچنین به بررسی تاثیر ضخامت الکترودها بر توان خروجی از لایه پیزوالکتریک و همچنین تاثیر ابعاد هندسی لایه پیزوالکتریک محرک، حسگر و تیر پایه بر توان خروجی از لایه پیزوالکتریک پرداخته خواهد شد. بدین ترتیب مشخص خواهد شد که تاثیر گذارترین پارامتر هندسی بر روی توان خروجی از لایه پیزوالکتریک، طول لایه میباشد.

نویسندگان

علی رادمنش

گروه مهندسی مکانیک، دانشکده فنی و مهندسی، واحد نجف آباد، دانشگاه آزاد اسلامی، نجف آباد، ایران

رضا قادری

گروه مهندسی مکانیک، دانشکده فنی و مهندسی، واحد نجف آباد، دانشگاه آزاد اسلامی، نجف آباد، ایران -- عضو هیات علمی، گروه مهندسی مکانیک، دانشکده فنی و مهندسی، واحد شهرکرد، دانشگاه آزاد اسلامی، شهرکرد، ایران

مجتبی کلاهدوزان

عضو هیات علمی گروه مکانیک، دانشکده فنی و مهندسی، واحد نجف آباد، دانشگاه آزاد اسلامی، نجف آباد، ایران

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • Lee, C., T. Itoh, and T. Suga, Self-Excited Piezoelectric PZT ...
  • Garcia, R. and R. Perez, Dynamic Atomic Force Microscopy Methods. ...
  • Brissaud, M., S. Ledren, and P. Gonnard, Modelling of a ...
  • Branco, P.J.C. and J.A. Dente, On the Ele ctrome chanics ...
  • Rogers, B., et al., Improving Tapping Mode Atomic Force Microscopy ...
  • Zhang, W., G. Meng, and H. Li, Adaptive Vibration Control ...
  • نمایش کامل مراجع