CIVILICA We Respect the Science
ناشر تخصصی کنفرانسهای ایران
عنوان
مقاله

مدل پرتو دی الکترونیک برنولی-اویلر مبتنی بر اثر گرادیان فشار

اعتبار موردنیاز : ۱ | تعداد صفحات: ۱۴ | تعداد نمایش خلاصه: ۱۳۴ | نظرات: ۰
سال انتشار: ۱۳۹۴
کد COI مقاله: NAAME01_171
زبان مقاله: فارسی
حجم فایل: ۵۶۵.۵۳ کیلوبایت (فایل این مقاله در ۱۴ صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد)

راهنمای دانلود فایل کامل این مقاله

اگر در مجموعه سیویلیکا عضو نیستید، به راحتی می توانید از طریق فرم روبرو اصل این مقاله را خریداری نمایید.
با عضویت در سیویلیکا می توانید اصل مقالات را با حداقل ۳۳ درصد تخفیف (دو سوم قیمت خرید تک مقاله) دریافت نمایید. برای عضویت در سیویلیکا به صفحه ثبت نام مراجعه نمایید. در صورتی که دارای نام کاربری در مجموعه سیویلیکا هستید، ابتدا از قسمت بالای صفحه با نام کاربری خود وارد شده و سپس به این صفحه مراجعه نمایید.
لطفا قبل از اقدام به خرید اینترنتی این مقاله، ابتدا تعداد صفحات مقاله را در بالای این صفحه کنترل نمایید.
برای راهنمایی کاملتر راهنمای سایت را مطالعه کنید.

خرید و دانلود فایل مقاله

با استفاده از پرداخت اینترنتی بسیار سریع و ساده می توانید اصل این مقاله را که دارای ۱۴ صفحه است در اختیار داشته باشید.

قیمت این مقاله : ۳,۰۰۰ تومان

آدرس ایمیل خود را در کادر زیر وارد نمایید:

مشخصات نویسندگان مقاله مدل پرتو دی الکترونیک برنولی-اویلر مبتنی بر اثر گرادیان فشار

  ایمان رحمی - دانشجوی کارشناسی ارشد،گروه مهندسی مکانیک،دانشگاه آزاد اسلامی،واحد دزفول،دزفول،ایران
  رامین حاتمی - دانشجوی کارشناسی ارشد،گروه مهندسی مکانیک،دانشگاه آزاد اسلامی،واحد دزفول،دزفول،ایران
  حمید باقری - دانشجوی کارشناسی ارشد،گروه مهندسی مکانیک،دانشگاه آزاد اسلامی،واحد دزفول،دزفول،ایران
    علی اشرفی زاده - استادیار،کارشناسی ارشد،گروه مهندسی مکانیک،دانشگاه آزاد اسلامی،واحد دزفول،دزفول،ایران

چکیده مقاله:

بررسی نظری از رفتار اندازه یک پرده نانو عایق برنولی - اویلر بر اساس تئوری الاستیسیته گرادیان فشار در این مقاله ارائه شده است اصل واریاسیون برای به دست آوردن معادلات اصلی و شرایط مرزی استفاده شده است که در آن اتصال بین فشار میدان الکتریکی، گرادیان فشار و میدان الکتریکی و گرادیان فشار شیب را نشان می دهد نظریه متفاوت از شعاع کلاسیک را رفتارهای وابسته به اندازه پرتوهای نانو عایق می توان توصیف کرد. مشکلات خمش استاتیک الاستیک ، دی الکتریک با عایق خالص( غیر پیزوالکتریک) و پرتو های کنسول پیزو الکتریک نشان داد اثرات اتصال شیب فشار میدان الکتریکی و کشش گرادیان فشار حل شده اند و مقایسه بین تئوری پرتوی کلاسیک و تئوری پرتوگرادیان فشار در مقاله ارائه شده است هنگامی که ضخامت پرتو قابل مقایسه با پارامترهای مقیاس نور داخلی آوانتاژ خارجی اعمالی باشد بدیهی است که عایق پرتوی نانو پیزو الکتریک منحرف می شود مدل ارائه شده برای شناخت ابتذال الکترا مکانیکی در سازه های عایق در مقیاس نانو بسیار مورد استفاده است و برای طراحی دستگاه های براساس پرتوهای معلق بسیار مفید است.

کلیدواژه‌ها:

گرادیان فشار،پرتو،خمش استاتیک الاستیک،اصل واریاسیون

کد مقاله/لینک ثابت به این مقاله

برای لینک دهی به این مقاله، می توانید از لینک زیر استفاده نمایید. این لینک همیشه ثابت است و به عنوان سند ثبت مقاله در مرجع سیویلیکا مورد استفاده قرار میگیرد:
https://www.civilica.com/Paper-NAAME01-NAAME01_171.html
کد COI مقاله: NAAME01_171

نحوه استناد به مقاله:

در صورتی که می خواهید در اثر پژوهشی خود به این مقاله ارجاع دهید، به سادگی می توانید از عبارت زیر در بخش منابع و مراجع استفاده نمایید:
رحمی, ایمان؛ رامین حاتمی؛ حمید باقری و علی اشرفی زاده، ۱۳۹۴، مدل پرتو دی الکترونیک برنولی-اویلر مبتنی بر اثر گرادیان فشار، اولین کنفرانس ملی رویکردهای نوین و کاربردی در مهندسی مکانیک، بناب، گروه مهندسی مکانیک دانشگاه آزاد اسلامی واحد بناب، https://www.civilica.com/Paper-NAAME01-NAAME01_171.html

در داخل متن نیز هر جا که به عبارت و یا دستاوردی از این مقاله اشاره شود پس از ذکر مطلب، در داخل پارانتز، مشخصات زیر نوشته می شود.
برای بار اول: (رحمی, ایمان؛ رامین حاتمی؛ حمید باقری و علی اشرفی زاده، ۱۳۹۴)
برای بار دوم به بعد: (رحمی؛ حاتمی؛ باقری و اشرفی زاده، ۱۳۹۴)
برای آشنایی کامل با نحوه مرجع نویسی لطفا بخش راهنمای سیویلیکا (مرجع دهی) را ملاحظه نمایید.

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :

  • el ectromechanc al Systems, " Science, anoه [۱] Craighead, H. ...
  • Ekinci, K. _ and Roukes, M. L., 2005, Nano electro ...
  • ofPull-In alculationع [۳] Dequesnes, M., Rotkin, S. V., and Aluru, ...
  • Tang, Z., Xu, Y., Li, G., and Aluru, N. R., ...
  • Fleck, N. A., Muller, G. M., Ashby, M. F., and ...
  • Lam, D. C. C., Yang, F., Chong, A. C. M., ...
  • Li, X. F., Wang, B. L., and Lee, K. Y, ...
  • Sharma, P., Maranganti, R., and Sharma, N. D., 2006, E ...
  • ۲۱ بهمن ماه NAAME۲۰۱۶, ۱۳۹۴ ...
  • in Nonpiezo electric Materials Due to Nanoscale Nonlocal Size Effects: ...
  • Majdoub, M. S., Sharma, P., and Cagin, T., 2009, Erratum: ...
  • Mindlin, R. D., 1964, Micro- Structure in Linear Elasticity, " ...
  • Gradient of Strain and Surface Tension in Linear econdج [۱۲] ...
  • Eringen, A. C., 1966, Linear Theory Micropolar Elasticity, " J. ...
  • Eringen, A. C., 1972, -8nlocal Polar Elastic Continua, " Int. ...
  • Fleck, N. A. and Hutchinson, J. W., 1993, _ Phenomeno ...
  • Gao, H., Huang, Y., Nix, W. D., and Hutchinson, J. ...
  • Hutchinson, J. W., and Fleck, N. A., 2001, _ Reformulatio ...
  • Beskos, D. E., Papargyri-B eskou, S., Tsepoura, K. G., and ...
  • Maranganti, R., and Sharma, P., 2007, +ength Scales at Which ...
  • Sharma, N. D., Landis, C. M., and Sharma, P., 2010, ...
  • Sharma, N. D., Landis, C., and Sharma, P., 2012, Erratum: ...
  • Lee, D., Yoon, A., Jang, S. Y., Yoon, J.-G., Chung, ...
  • Flexoelectric Effect in Comb Electrode omverseع [۲۴] Shen, Z. Y., ...
  • Hu, S. L, and Shen, S. P., 2009, Electric Field ...
  • Shen, S. P. and Hu, S. L., 2010, _ Theory ...
  • Lazopoulos, K. A., and Lazopoulos, A. K., 2010, Bending and ...
  • ۲۱ بهمن ماه NAAME۲۰۱۶, ۱۳۹۴ ...
  • Cross, L. E., 2006, Elexoelectric Effects: Charge Separation in Insulating ...
  • Yang, J. S., 2004, An Introduction to the Theory of ...
  • Maugin, G. A., 1980, Fhe Method of Virtual Power in ...
  • Park, S. K., and Gao, X. L, 2006, B erhoulli-Euler ...
  • Tadmor, E. B., and Kosa, G., 2003, E le ctromechanical ...
  • Ma, H. M., Gao, X. L., and Reddy, J. N., ...
  • Yang, F., Chong, A. C., Lam, D. C. C., and ...
  • Reddy, J. N., 2007, Nonlocal Theories for Bending, Buckling and ...
  • Zhou, S. J., Kong, S. L., Nie, Z. F., and ...
  • Liang, X., and Shen, S. P., 2012, Effect of Electrostati ...
  • Rivera, C., 2011, Effects of Electrostatic Force On Piezoelectric Materials ...
  • McMeeking, R. M., and Landis, C. M., 2005, Electrostatic Forces ...
  • Toupin, R. A., 1956, Fhe Elastic Dielectric, " J. Ration. ...
  • Shen, S. P., and Kuang, Z. B., 1999, An Active ...
  • Kuang, Z. B., 2002, Nonlinear Continuum Mechanics, Shanghai Jiaotong University ...
  • Kuang, Z. B., 2008, some Variational Principles in Elastic Dielectric ...
  • Kuang, Z. B., 2009, Rnternal Energy Variational Principles and Governing ...
  • Liu, C. C., Hu, S. L., and Shen, S. P., ...
  • ۲۱ بهمن ماه NAAME۲۰۱۶, ۱۳۹۴ ...
  • علم سنجی و رتبه بندی مقاله

    مشخصات مرکز تولید کننده این مقاله به صورت زیر است:
    نوع مرکز: دانشگاه آزاد
    تعداد مقالات: ۳۵۹۰
    در بخش علم سنجی پایگاه سیویلیکا می توانید رتبه بندی علمی مراکز دانشگاهی و پژوهشی کشور را بر اساس آمار مقالات نمایه شده مشاهده نمایید.

    مدیریت اطلاعات پژوهشی

    اطلاعات استنادی این مقاله را به نرم افزارهای مدیریت اطلاعات علمی و استنادی ارسال نمایید و در تحقیقات خود از آن استفاده نمایید.

    مقالات مرتبط جدید

    شبکه تبلیغات علمی کشور

    به اشتراک گذاری این صفحه

    اطلاعات بیشتر درباره COI

    COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
    کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.