CIVILICA We Respect the Science
ناشر تخصصی کنفرانسهای ایران
عنوان
مقاله

بررسی اثر ضخامت بر حساسیت لایه نازک تلوریوم نسبت به گاز سمی سولفید هیدروژن

اعتبار موردنیاز : ۱ | تعداد صفحات: ۹ | تعداد نمایش خلاصه: ۲۶۸ | نظرات: ۰
سال انتشار: ۱۳۹۲
کد COI مقاله: NANOO01_143
زبان مقاله: فارسی
حجم فایل: ۴۹۰.۶۱ کیلوبایت (فایل این مقاله در ۹ صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد)

راهنمای دانلود فایل کامل این مقاله

اگر در مجموعه سیویلیکا عضو نیستید، به راحتی می توانید از طریق فرم روبرو اصل این مقاله را خریداری نمایید.
با عضویت در سیویلیکا می توانید اصل مقالات را با حداقل ۳۳ درصد تخفیف (دو سوم قیمت خرید تک مقاله) دریافت نمایید. برای عضویت در سیویلیکا به صفحه ثبت نام مراجعه نمایید. در صورتی که دارای نام کاربری در مجموعه سیویلیکا هستید، ابتدا از قسمت بالای صفحه با نام کاربری خود وارد شده و سپس به این صفحه مراجعه نمایید.
لطفا قبل از اقدام به خرید اینترنتی این مقاله، ابتدا تعداد صفحات مقاله را در بالای این صفحه کنترل نمایید.
برای راهنمایی کاملتر راهنمای سایت را مطالعه کنید.

خرید و دانلود فایل مقاله

با استفاده از پرداخت اینترنتی بسیار سریع و ساده می توانید اصل این مقاله را که دارای ۹ صفحه است در اختیار داشته باشید.

قیمت این مقاله : ۳,۰۰۰ تومان

آدرس ایمیل خود را در کادر زیر وارد نمایید:

مشخصات نویسندگان مقاله بررسی اثر ضخامت بر حساسیت لایه نازک تلوریوم نسبت به گاز سمی سولفید هیدروژن

  مهدی منوچهریان - عضو هئیت علمی دانشگاه آزاد اسلامی واحد تهران جنوب
  مجید مجتهدزاده لاریجانی - عضو هیئت علمی سازمان انرژی اتمی ایران

چکیده مقاله:

در این تحقیق از لاه های نازک تلوریوم برای سنجش گاز سولفید هیدروژن استافده شده است بدین منظور لایه نازک تلوریوم با صخامتهای 100 ، 200 و 300 نانومتر به روش تبخیر گرمایی بر روی زیر لایه آلومینا انباشت شده است و اثر ضخامت بر حساسیت لایه نازک تلوریوم بمنظور سنجش گاز H2S مورد مطالعه قرار گرفته است برای مشخصه یابی نمونه ها از آنالیز پراش پرتو ایکس XRD و میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM استفاده شده است الگوهای XRD نشان میدهد که با افزایش ضخامت بلوری شدن بهبود پیدا کرده است با مشاهده تصاویر SEM در میابیم که با افزایش ضخامت اندازه دانه ها بزرگتر شده و پیوستگی در سطح لایه افزایش پیدا کرده و لایه ها یکنواخت تر شده است با بررسی اصر ضخامت بر سنجش گاز H2S در دمای اتاق متوجه شدیم که با افزایش ضخامت حساسیت کاهش پیدا کرده و زمان پااسخ و ریکاوری افزایش یافته است همچنین با مطالعه اثر غلظت گاز H2S مشخص شد که با افزایش غلظت حساسیت افزایش پیدا کرده و زمان پاسخ کاهش و زمان ریکاوری افزایش یافته است.

کلیدواژه‌ها:

تلوریوم ، میکروسکوپ الکترونی روبشی ، سولفید هیدروژن ، پراش پرتو ایکس ، زمان پاسخ و ریکاوری

کد مقاله/لینک ثابت به این مقاله

برای لینک دهی به این مقاله، می توانید از لینک زیر استفاده نمایید. این لینک همیشه ثابت است و به عنوان سند ثبت مقاله در مرجع سیویلیکا مورد استفاده قرار میگیرد:
https://www.civilica.com/Paper-NANOO01-NANOO01_143.html
کد COI مقاله: NANOO01_143

نحوه استناد به مقاله:

در صورتی که می خواهید در اثر پژوهشی خود به این مقاله ارجاع دهید، به سادگی می توانید از عبارت زیر در بخش منابع و مراجع استفاده نمایید:
منوچهریان, مهدی و مجید مجتهدزاده لاریجانی، ۱۳۹۲، بررسی اثر ضخامت بر حساسیت لایه نازک تلوریوم نسبت به گاز سمی سولفید هیدروژن، اولین همایش ملی نانوتکنولوژی مزایا و کاربردها، همدان، انجمن ارزیابان محیط زیست هگمتانه، https://www.civilica.com/Paper-NANOO01-NANOO01_143.html

در داخل متن نیز هر جا که به عبارت و یا دستاوردی از این مقاله اشاره شود پس از ذکر مطلب، در داخل پارانتز، مشخصات زیر نوشته می شود.
برای بار اول: (منوچهریان, مهدی و مجید مجتهدزاده لاریجانی، ۱۳۹۲)
برای بار دوم به بعد: (منوچهریان و مجتهدزاده لاریجانی، ۱۳۹۲)
برای آشنایی کامل با نحوه مرجع نویسی لطفا بخش راهنمای سیویلیکا (مرجع دهی) را ملاحظه نمایید.

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :

  • «The mechanism of operation of WO, -based _ ؛(1990) 1-Barrett_ ...
  • «Growth of vacuum- deposited tellurium films On glass substrates and ...
  • Sen_ _ BhandarkarL _ _ _ _ Deshpande L S. ...
  • «Sensing properties of tellurium based thin films to ؛(2002) 7-Tsiulyanu ...
  • «The tin oxide gas sensor and its applications» L Journal ...
  • علم سنجی و رتبه بندی مقاله

    مشخصات مرکز تولید کننده این مقاله به صورت زیر است:
    نوع مرکز: دانشگاه آزاد
    تعداد مقالات: ۸۶۳۶
    در بخش علم سنجی پایگاه سیویلیکا می توانید رتبه بندی علمی مراکز دانشگاهی و پژوهشی کشور را بر اساس آمار مقالات نمایه شده مشاهده نمایید.

    مدیریت اطلاعات پژوهشی

    اطلاعات استنادی این مقاله را به نرم افزارهای مدیریت اطلاعات علمی و استنادی ارسال نمایید و در تحقیقات خود از آن استفاده نمایید.

    مقالات مرتبط جدید

    شبکه تبلیغات علمی کشور

    به اشتراک گذاری این صفحه

    اطلاعات بیشتر درباره COI

    COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
    کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.