رویکردی نوین در طراحی ASIC برای جبران آثار خرابیهای فیزیکی در فرایندهای ساخت زیر میکرون
محل انتشار: دومین همایش دانشجویی فناوری نانو
سال انتشار: 1386
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 1,727
فایل این مقاله در 7 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
NANOSC02_001
تاریخ نمایه سازی: 27 دی 1385
چکیده مقاله:
افزایش روزافزون پیچیدگی مدارهای مجتمع از یکسو و فراگیرشدن فناوری نانو در عرصهی ساخت و تولید تراشههای رقمی از سوی دیگر، منجر به حساسیت بیشتر این مدارها در برابر اشکالهای فیزیکی ( ناشی از ساخت ) و کاهش بازده محصولات شدهاست . استفادهی مجدد از این تراشهها حتی با کارایی کمتر بسیار مناسب بهنظر میرسد . در این مقاله روشی برای سنتز سطح بالای ASIC های تحملپذیر در برابر اشکال با معرفی مفهوم انتساب منابع پویا ارائه شدهاست . در این روش عملگرها به مؤلفههای مجازی منتسب شده و عملیات نگاشت بین این واحدهای مجازی با واحدهای فیزیکی از طریق تعدادی تسهیم - کننده و فلیپ - فلاپ تعبیهشده در مسیرِدادهی مدار صورت میپذیرد
کلیدواژه ها:
نویسندگان
علی شهابی
آزمایشگاه پژوهشی CAD ، دانشکدهی برق و کامپیوتر، دانشگاه تهران، تهران، ا
زین العابدین نوابی
آزمایشگاه پژوهشی CAD ، دانشکدهی برق و کامپیوتر، دانشگاه تهران، تهران، ا
مراجع و منابع این مقاله:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :