CIVILICA We Respect the Science
(ناشر تخصصی کنفرانسهای کشور / شماره مجوز انتشارات از وزارت فرهنگ و ارشاد اسلامی: ۸۹۷۱)
عنوان
مقاله

تهیه لایه نازک روی اکسید نانو ساختار بر روی بستر شیشه ای به روش سل - ژل با استفاده از تکنیک های پوشش دهی غوطه ور سازی و چرخشی

اعتبار موردنیاز: ۱ | تعداد صفحات: ۶ | تعداد نمایش خلاصه: ۳۴۱۰ | نظرات: ۰
سرفصل ارائه مقاله: نانولوله ، سیم ، لایه نازک
سال انتشار: ۱۳۸۶
نوع ارائه: شفاهی
کد COI مقاله: NANOSC02_276
زبان مقاله: فارسی
حجم فایل: ۴۱۱.۸ کلیوبایت (فایل این مقاله در ۶ صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد)

راهنمای دانلود فایل کامل این مقاله

اگر در مجموعه سیویلیکا عضو نیستید، به راحتی می توانید از طریق فرم روبرو اصل این مقاله را خریداری نمایید.
با عضویت در سیویلیکا می توانید اصل مقالات را با حداقل ۳۳ درصد تخفیف (دو سوم قیمت خرید تک مقاله) دریافت نمایید. برای عضویت در سیویلیکا به صفحه ثبت نام مراجعه نمایید. در صورتی که دارای نام کاربری در مجموعه سیویلیکا هستید، ابتدا از قسمت بالای صفحه با نام کاربری خود وارد شده و سپس به این صفحه مراجعه نمایید.
لطفا قبل از اقدام به خرید اینترنتی این مقاله، ابتدا تعداد صفحات مقاله را در بالای این صفحه کنترل نمایید. در پایگاه سیویلیکا عموما مقالات زیر ۵ صفحه فولتکست محسوب نمی شوند و برای خرید اینترنتی عرضه نمی شوند.
برای راهنمایی کاملتر راهنمای سایت را مطالعه کنید.

خرید و دانلود PDF مقاله

با استفاده از پرداخت اینترنتی بسیار سریع و ساده می توانید اصل این مقاله را که دارای ۶ صفحه است در اختیار داشته باشید.

قیمت این مقاله : ۳۰,۰۰۰ ریال

آدرس ایمیل خود را در زیر وارد نموده و کلید خرید با پرداخت اینترنتی را بزنید. آدرس ایمیل:

رفتن به مرحله بعد:

در صورت بروز هر گونه مشکل در روند خرید اینترنتی، بخش پشتیبانی کاربران آماده پاسخگویی به مشکلات و سوالات شما می باشد.

مشخصات نویسندگان مقاله تهیه لایه نازک روی اکسید نانو ساختار بر روی بستر شیشه ای به روش سل - ژل با استفاده از تکنیک های پوشش دهی غوطه ور سازی و چرخشی

  محمد خالدی سردشتی - دانشجوی دکتری شیمی معدنی دانشگاه اصفهان
  محمدحسین حبیبی - استاد شیمی معدنی دانشگاه اصفهان

چکیده مقاله:

در این مقاله، روش نشاندن فیلم های نازک روی اکسید نانو ساختار روی بستر شیشه ای با روش سل – ژل بررسی شده است. فیلم های نازک نانو ساختاری روی اکسید با جهت یابی شناخته شده ی (002) بوسیله تکنیک های پوشش دهی غوطه ور سازی (Dip Coating) و چرخشی (Spin Coating) تهیه شدند. فیلم های تهیه شده شفافیت در حدود 85-90% و باند جذبی 375 نانومتر نشان دادند. پراش اشعه ایکس ساختار ورتزیت (Wurtzite) پلی کریستایت با جهت یابی ترجیهی (002) در پیک 34/4 که مطابق با ساختار هگزاگونال ZnO هست را نشان داد. این فیلم ها پتانسیل کاربرد به عنوان فوتوکاتالیست و الکترودهای شفاف درصنایع اپتیک و الکترونیک را دارا هستند.

کلیدواژه‌ها:

فیلم نانو ساختار، پوشش دهی ، فرایند سل - ژل ZnO

کد مقاله/لینک ثابت به این مقاله

برای لینک دهی به این مقاله، می توانید از لینک زیر استفاده نمایید. این لینک همیشه ثابت است و به عنوان سند ثبت مقاله در مرجع سیویلیکا مورد استفاده قرار میگیرد:
https://www.civilica.com/Paper-NANOSC02-NANOSC02_276.html
کد COI مقاله: NANOSC02_276

نحوه استناد به مقاله:

در صورتی که می خواهید در اثر پژوهشی خود به این مقاله ارجاع دهید، به سادگی می توانید از عبارت زیر در بخش منابع و مراجع استفاده نمایید:
خالدی سردشتی, محمد و محمدحسین حبیبی، ۱۳۸۶، تهیه لایه نازک روی اکسید نانو ساختار بر روی بستر شیشه ای به روش سل - ژل با استفاده از تکنیک های پوشش دهی غوطه ور سازی و چرخشی، دومین همایش دانشجویی فناوری نانو، دانشگاه کاشان، پژوهشکده علوم و فناوری نانو، https://www.civilica.com/Paper-NANOSC02-NANOSC02_276.html

در داخل متن نیز هر جا که به عبارت و یا دستاوردی از این مقاله اشاره شود پس از ذکر مطلب، در داخل پارانتز، مشخصات زیر نوشته می شود.
برای بار اول: (خالدی سردشتی, محمد و محمدحسین حبیبی، ۱۳۸۶)
برای بار دوم به بعد: (خالدی سردشتی و حبیبی، ۱۳۸۶)
برای آشنایی کامل با نحوه مرجع نویسی لطفا بخش راهنمای سیویلیکا (مرجع دهی) را ملاحظه نمایید.

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :

  • Lakshmi, B. B., Dorhout, P. K., Martine, C. R., *Sol-gel ...
  • Mills, A., Le Hunte, S., ،An overview of semic onductor ...
  • Blount, M. C., Kim, D. H., Falconer, J. L., *Transparent ...
  • Alver, U., Kln, T., Bacaksz, E., Kicik meroglu, T., Nezir, ...
  • Peng, F.; Wang; H., YU, H., Chen, S., *Preparation of ...
  • Suchea, M., Christoulakis, S., Moschovis, K., Katsarakis, N., Kiriakidis, G., ...
  • Ghosh, R., Paul, G. K., Basak, D., *Effect of thermal ...
  • Jiwei, Z., Liangying, Z., Xi, Y., _ dielectric properties and ...
  • films deposited by sol-gel process, ? Ceramics I nternational, 26, ...
  • emission Stimulated؛، [10] Hsu, C. H., Wu, C. Y., Hseih, ...
  • Jimenez Gonzalez, A. E., Soto Urueta J. A., "Optical transmittance ...
  • Ning, Z. Y., Cheng, S . H., Ge, S . ...
  • Zhao, J. L., Li, X. M., Zhang, S., Yang, C., ...
  • Shishodia, P. K., Kim, H. J., Wakahara, A., Yoshida, A., ...
  • Hernandez1, A., Maya1, L., S anchez-Mora, E., Sanchez1, E. M., ...
  • Maiti, U. N.; Ghosh, P. K.; Nandy, S.; C hattopadhyay, ...
  • Bae, S. H., LEE, S. Y., JIN, B. J., (IM, ...
  • Habibi, M. H., and Talebian, N., Choi, J.-H., ،، The ...
  • Habibi, M. H., and Talebian, N., _ effect of annealing ...
  • علم سنجی و رتبه بندی مقاله

    مشخصات مرکز تولید کننده این مقاله به صورت زیر است:
    نوع مرکز:
    تعداد مقالات: ۱۵۲۷۴
    در بخش علم سنجی پایگاه سیویلیکا می توانید رتبه بندی علمی مراکز دانشگاهی و پژوهشی کشور را بر اساس آمار مقالات نمایه شده مشاهده نمایید.

    مدیریت اطلاعات پژوهشی

    اطلاعات استنادی این مقاله را به نرم افزارهای مدیریت اطلاعات علمی و استنادی ارسال نمایید و در تحقیقات خود از آن استفاده نمایید.

    مقالات پیشنهادی مرتبط

    شبکه تبلیغات علمی کشور

    به اشتراک گذاری این صفحه

    اطلاعات بیشتر درباره COI

    COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
    کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.