CIVILICA We Respect the Science
ناشر تخصصی کنفرانسهای ایران
عنوان
مقاله

Inconsistent behavior of electrical conductivity in Pd thin film as a function of film thickness

اعتبار موردنیاز : ۱ | تعداد صفحات: ۶ | تعداد نمایش خلاصه: ۲۴۰۵ | نظرات: ۰
سال انتشار: ۱۳۸۸
نوع ارائه: پوستر
کد COI مقاله: NAYRC01_126
زبان مقاله: انگلیسی
حجم فایل: ۲۱۳.۳۹ کیلوبایت (فایل این مقاله در ۶ صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد)

راهنمای دانلود فایل کامل این مقاله

اگر در مجموعه سیویلیکا عضو نیستید، به راحتی می توانید از طریق فرم روبرو اصل این مقاله را خریداری نمایید.
با عضویت در سیویلیکا می توانید اصل مقالات را با حداقل ۳۳ درصد تخفیف (دو سوم قیمت خرید تک مقاله) دریافت نمایید. برای عضویت در سیویلیکا به صفحه ثبت نام مراجعه نمایید. در صورتی که دارای نام کاربری در مجموعه سیویلیکا هستید، ابتدا از قسمت بالای صفحه با نام کاربری خود وارد شده و سپس به این صفحه مراجعه نمایید.
لطفا قبل از اقدام به خرید اینترنتی این مقاله، ابتدا تعداد صفحات مقاله را در بالای این صفحه کنترل نمایید.
برای راهنمایی کاملتر راهنمای سایت را مطالعه کنید.

خرید و دانلود فایل مقاله

با استفاده از پرداخت اینترنتی بسیار سریع و ساده می توانید اصل این مقاله را که دارای ۶ صفحه است در اختیار داشته باشید.

قیمت این مقاله : ۳,۰۰۰ تومان

آدرس ایمیل خود را در کادر زیر وارد نمایید:

مشخصات نویسندگان مقاله Inconsistent behavior of electrical conductivity in Pd thin film as a function of film thickness

S Nazarpour - PhD Student. MIND, Department of Electronics, University of Barcelona.
F Afshar - PhD Student. SIC, Department of Electronics, University of Barcelona
R. Zamani - Master Student. Institute of Nanoscience and Nanotechnology
A Cirera - Assistant Professor, Department of Electronics, University of Barcelona.

چکیده مقاله:

Due to the various important applications in thin film technology such as electronic devices, the interface between metal and oxides are interested particularly. It has been the main topic of many research projects to illustrate that their properties depend highly on the structure of the interface. Thin metal films offer several advantages because of the ability to deposite directly in vacuum environment that can prevent the existence of contamination in the film and also, low cost of metallic materials lead to developing this field rapidly. The interfacial properties of a depositsubstrate system are mainly influenced by the stress which developed at the interface. It has been shown that the interfacial stress depends on many parameters such as the contamination at the interface, the mechanical properties of the substrate and thin films, growth mode of the thin film and also the structure and the misfit between the thin film and substrate lattice parameters. In this study, electrical conductivity of the thin Pd film was investigated as a consequence of changing the thickness. Pd improved to an interesting metallic thin film due to inconceivable adhesion properties. It has been found that the stress which appear after the thin film deposition governed the electrical conductivity in the thickness range between 30nm to 70nm. However, semi- continues film has been observed in the thickness of Pd thin film lower than 10 nm. Indeed, the 3D growth has been observed in the higher thickness of Pd thin film.

کلیدواژه‌ها:

Thin metallic film, Surface roughness, Electrical conductivity

کد مقاله/لینک ثابت به این مقاله

برای لینک دهی به این مقاله، می توانید از لینک زیر استفاده نمایید. این لینک همیشه ثابت است و به عنوان سند ثبت مقاله در مرجع سیویلیکا مورد استفاده قرار میگیرد:
https://www.civilica.com/Paper-NAYRC01-NAYRC01_126.html
کد COI مقاله: NAYRC01_126

نحوه استناد به مقاله:

در صورتی که می خواهید در اثر پژوهشی خود به این مقاله ارجاع دهید، به سادگی می توانید از عبارت زیر در بخش منابع و مراجع استفاده نمایید:
Nazarpour, S; F Afshar; R. Zamani & A Cirera, ۱۳۸۸, Inconsistent behavior of electrical conductivity in Pd thin film as a function of film thickness, همایش ملی نانو مواد و نانو تکنولوژی, نجف آباد, دانشگاه آزاد اسلامی, https://www.civilica.com/Paper-NAYRC01-NAYRC01_126.html

در داخل متن نیز هر جا که به عبارت و یا دستاوردی از این مقاله اشاره شود پس از ذکر مطلب، در داخل پارانتز، مشخصات زیر نوشته می شود.
برای بار اول: (Nazarpour, S; F Afshar; R. Zamani & A Cirera, ۱۳۸۸)
برای بار دوم به بعد: (Nazarpour; Afshar; Zamani & Cirera, ۱۳۸۸)
برای آشنایی کامل با نحوه مرجع نویسی لطفا بخش راهنمای سیویلیکا (مرجع دهی) را ملاحظه نمایید.

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :

  • E. H. Sondheimer, Adv. Phys. 1 (1952) 1. ...
  • A. F. Mayadas, M. Shatzkes, and J. F. Janak, Appl. ...
  • A. F. Mayadas and M. Shatzkes. Phys. Rev. B. 1 ...
  • C. R. Tellier, C. R. Pichard, and A. J. Tosser, ...
  • C. R. Pichard, C. R. Tellier, and A. J. Tosser, ...
  • G. Reiss, J. Vancea, and H. Hoffmann, Phys. Rev. Lett. ...
  • J. R. Sambles, Thin solid films. 106 (1983) 321. ...
  • I. K. Schuller, Phys. Rev. Lett. 44 (1980) 1597. ...
  • I. K. Schuller, and C. M. Falco, Surf. Sci. 113 ...
  • P. F. Carcia, and A. Suna, J. Appl. Phys. 54 ...
  • M. Gurvitch, Phys. Rev. Lett. 54 (1983) 2000. ...
  • R. Dimmich, J. Phys. F: Met. Phys. 15 (1985) 2477. ...
  • S. Nazarpour, E. Langenberg, _ Jambois, C. Ferrater, M. V. ...
  • J. J. Thomson, Proc. Camb. Phil. Soc. 2 (1901) 119. ...
  • K. Fuchs, Proc. Camb. Phil. Soc. 34 (1938) 100. ...
  • E. H. Sondheimer, Adv. Phys. 1 (1952) 1. ...
  • مدیریت اطلاعات پژوهشی

    اطلاعات استنادی این مقاله را به نرم افزارهای مدیریت اطلاعات علمی و استنادی ارسال نمایید و در تحقیقات خود از آن استفاده نمایید.

    مقالات مرتبط جدید

    شبکه تبلیغات علمی کشور

    به اشتراک گذاری این صفحه

    اطلاعات بیشتر درباره COI

    COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
    کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.