مقایسه خواص تشعشعی ساختارهای نانومقیاس سیلیکون تقویت شده با یونهای دهنده در غلظتهای متفاوت

سال انتشار: 1389
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 1,057

فایل این مقاله در 6 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

NAYRC02_092

تاریخ نمایه سازی: 10 دی 1388

چکیده مقاله:

مطالعه سطوح پوشیده شده با فیلمهای نازک از اهمیت بسزایی برخوردار می باشد دراین مقاله سیلیکون تقویت شده با یونهای دهنده و غلظتهای متفاوت با پوشش دی اکسید سیلیکون مورد بررسی گردید و نتایج مقایسه شد. ضخامت سیلیکون 700 μm و ضخامت پوشش دی اکسید سیلیکون 65.3nm می باشد اشعه ورودی به صورت قائم می تابد دمای لایه ها 944درجه سانتی گراد در نظر گرفته شد. نتایج نشان داد که افزایش غلظت، منجر به کاهش جزئی در ضریب بازتاب و افزایش جزئی در ضریب صدور می گردد لذا اثر غلظت در دماهای بالا برروی خواص تشعشعی کم می باشد در طیف مادون قرمز برای طول موج بزرگتر از 10 μm ضریب صدور به مقدار 0.67 می رسد هرگاه دما افزایش یاد تفرق شبکه به علت افزایش غلظت فوتونها پدیده غالب می شود و در دماهای بالا از اهمیت تفرق توسط یونها کاسته می شود زیرا در دماهای بالا حاملان انرژی سریعتر حرکت کرده و نیروی کولمب بین انها کاهش می یابد برای دمای بالاتر از 600 k زمان پراکندگی برای غلظت های متفاوت یکسان می باشد.

نویسندگان

سیدامیرعباس علومی

دانشجوی دکترا اصفهان، دانشگاه صنعتی اصفهان، دانشکده مهندسی مکانیک

احمد صابونچی

دانشیار اصفهان دانشگاه صنعتی اصفهان دانشکده مهندسی مکانیک

احمد صداقت

استادیار اصفهان دانشگاه صنعتی اصفهان دانشکده مهندسی مکانیک

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • _ _ _ _ _ _ Nanoscale ...
  • Z. M. Zhang, C. J. Fu, and Q. Z. Zhu, ...
  • G. E. Jellison and F. A. Modine, "Opticl Functions of ...
  • _ H. Li, "Refractive Index of Silicon and Germanium and ...
  • 2. K. Gaylord and J. N. Linxwiler, "A Method for ...
  • _ _ _ _ of Electrons and Holes in Ge, ...
  • S. M. Sze, Semiconductor Devices, Physics and Technolog. 2nd ed, ...
  • S. M. Sze, Physics of Semiconductor Devices, 2nd ed, Wiley, ...
  • W. E. Beadle, J. C. C. Tsai, and R. D. ...
  • _ _ _ _ "Silicon Nitride (Si3N4)" Handbook of Qptical ...
  • _ _ _ _ of Silicon-Relateo Materials", International ...
  • نمایش کامل مراجع