CIVILICA We Respect the Science
(ناشر تخصصی کنفرانسهای کشور / شماره مجوز انتشارات از وزارت فرهنگ و ارشاد اسلامی: ۸۹۷۱)
عنوان
مقاله

Effects of Thin Film Coatings on Radiative Properties of Nanoscale Multilayer in Infrared Wavelengths

اعتبار موردنیاز: ۱ | تعداد صفحات: ۱۴ | تعداد نمایش خلاصه: ۱۴۱۷ | نظرات: ۰
سرفصل ارائه مقاله: مهندسی شیمی مواد
سال انتشار: ۱۳۸۸
کد COI مقاله: NCCEESLAMSHAR01_139
زبان مقاله: انگلیسی
حجم فایل: ۲۹۵.۸۳ کلیوبایت (فایل این مقاله در ۱۴ صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد)

راهنمای دانلود فایل کامل این مقاله

اگر در مجموعه سیویلیکا عضو نیستید، به راحتی می توانید از طریق فرم روبرو اصل این مقاله را خریداری نمایید.
با عضویت در سیویلیکا می توانید اصل مقالات را با حداقل ۳۳ درصد تخفیف (دو سوم قیمت خرید تک مقاله) دریافت نمایید. برای عضویت در سیویلیکا به صفحه ثبت نام مراجعه نمایید. در صورتی که دارای نام کاربری در مجموعه سیویلیکا هستید، ابتدا از قسمت بالای صفحه با نام کاربری خود وارد شده و سپس به این صفحه مراجعه نمایید.
لطفا قبل از اقدام به خرید اینترنتی این مقاله، ابتدا تعداد صفحات مقاله را در بالای این صفحه کنترل نمایید. در پایگاه سیویلیکا عموما مقالات زیر ۵ صفحه فولتکست محسوب نمی شوند و برای خرید اینترنتی عرضه نمی شوند.
برای راهنمایی کاملتر راهنمای سایت را مطالعه کنید.

خرید و دانلود PDF مقاله

با استفاده از پرداخت اینترنتی بسیار سریع و ساده می توانید اصل این مقاله را که دارای ۱۴ صفحه است در اختیار داشته باشید.

قیمت این مقاله : ۳۰,۰۰۰ ریال

آدرس ایمیل خود را در زیر وارد نموده و کلید خرید با پرداخت اینترنتی را بزنید. آدرس ایمیل:

رفتن به مرحله بعد:

در صورت بروز هر گونه مشکل در روند خرید اینترنتی، بخش پشتیبانی کاربران آماده پاسخگویی به مشکلات و سوالات شما می باشد.

مشخصات نویسندگان مقاله Effects of Thin Film Coatings on Radiative Properties of Nanoscale Multilayer in Infrared Wavelengths

  S.A.A Oloomi - PhD Student, Department of Mechanical Engineering, Isfahan University of Technology, Isfahan
  A Saboonchi - Associate Professor, Department of Mechanical Engineering, Isfahan University of Technology, Isfahan
  A Sedaghat - Assistant Professor, Department of Mechanical Engineering, Isfahan University of Technology, Isfahan

چکیده مقاله:

Understanding the radiative properties of semiconductors is essential for the advancement of manufacturing technology, such as rapid thermal processing [1]. Because the major heating source in rapid thermal processing is lamp radiation, knowledge of radiative properties is important fortemperature control during the process. This work uses transfer-matrix method for calculating the radiative properties. Dopped silicon is used and the coherent formulation is applied. The Drude model for the optical constants of doped silicon is employed. Results showed the effect of wave interference in radiative properties of nanoscale multilayer structured. Silicon nitride coating has higher reflectance than Silicon dioxide coating for 0.7 m 0.9 m and1.2 m 2 m , but for 0.9 m 1.2 m silicon oxide coating has higher reflectance than silicon nitride coating. Therefore Silicon nitride coating has higher average reflectance than Silicon dioxide coating in infrared wavelength. Silicon oxide coating has higher average transmittance than Silicon nitride coating in infrared wavelength. This behavior is similar for donars and acceptors. The average emittance for Silicon nitride coating is 0.28 and for Silicon dioxide coating is 0.2878 for donars, but it for Silicon dioxide coating is 0.2785 and Silicon nitride coating is 0.2650 for acceptors. So donars have higher average emittance than acceptors.Therefore coatings act as wavelength selective radiative properties for radiative energy conversion and thermal radiation detection

کلیدواژه‌ها:

Effects, Thin Film, Coatings, Radiative Properties, Nanoscale, Multilayer, Infrared Wavelengths

کد مقاله/لینک ثابت به این مقاله

برای لینک دهی به این مقاله، می توانید از لینک زیر استفاده نمایید. این لینک همیشه ثابت است و به عنوان سند ثبت مقاله در مرجع سیویلیکا مورد استفاده قرار میگیرد:
http://www.civilica.com/Paper-NCCEESLAMSHAR01-NCCEESLAMSHAR01_139.html
کد COI مقاله: NCCEESLAMSHAR01_139

نحوه استناد به مقاله:

در صورتی که می خواهید در اثر پژوهشی خود به این مقاله ارجاع دهید، به سادگی می توانید از عبارت زیر در بخش منابع و مراجع استفاده نمایید:
Oloomi, S.A.A; A Saboonchi & A Sedaghat, ۱۳۸۸, Effects of Thin Film Coatings on Radiative Properties of Nanoscale Multilayer in Infrared Wavelengths, همایش ملی مهندسی شیمی, اسلامشهر, دانشگاه ازاد اسلامی واحد اسلامشهر, http://www.civilica.com/Paper-NCCEESLAMSHAR01-NCCEESLAMSHAR01_139.html

در داخل متن نیز هر جا که به عبارت و یا دستاوردی از این مقاله اشاره شود پس از ذکر مطلب، در داخل پارانتز، مشخصات زیر نوشته می شود.
برای بار اول: (Oloomi, S.A.A; A Saboonchi & A Sedaghat, ۱۳۸۸)
برای بار دوم به بعد: (Oloomi; Saboonchi & Sedaghat, ۱۳۸۸)
برای آشنایی کامل با نحوه مرجع نویسی لطفا بخش راهنمای سیویلیکا (مرجع دهی) را ملاحظه نمایید.

علم سنجی و رتبه بندی مقاله

مشخصات مرکز تولید کننده این مقاله به صورت زیر است:
نوع مرکز:
تعداد مقالات: ۱۸۹۲۴
در بخش علم سنجی پایگاه سیویلیکا می توانید رتبه بندی علمی مراکز دانشگاهی و پژوهشی کشور را بر اساس آمار مقالات نمایه شده مشاهده نمایید.

مدیریت اطلاعات پژوهشی

اطلاعات استنادی این مقاله را به نرم افزارهای مدیریت اطلاعات علمی و استنادی ارسال نمایید و در تحقیقات خود از آن استفاده نمایید.

مقالات مرتبط جدید

شبکه تبلیغات علمی کشور

به اشتراک گذاری این صفحه

اطلاعات بیشتر درباره COI

COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.