CIVILICA We Respect the Science
ناشر تخصصی کنفرانسهای ایران
عنوان
مقاله

مرور روش های تحلیل رفتار ترک و اثرات آن در مواد پیزوالکتریک

اعتبار موردنیاز : ۱ | تعداد صفحات: ۶ | تعداد نمایش خلاصه: ۲۲۴ | نظرات: ۰
سال انتشار: ۱۳۹۴
کد COI مقاله: NCMEIS01_068
زبان مقاله: فارسی
حجم فایل: ۴۷۸.۶۳ کیلوبایت (فایل این مقاله در ۶ صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد)

راهنمای دانلود فایل کامل این مقاله

اگر در مجموعه سیویلیکا عضو نیستید، به راحتی می توانید از طریق فرم روبرو اصل این مقاله را خریداری نمایید.
با عضویت در سیویلیکا می توانید اصل مقالات را با حداقل ۳۳ درصد تخفیف (دو سوم قیمت خرید تک مقاله) دریافت نمایید. برای عضویت در سیویلیکا به صفحه ثبت نام مراجعه نمایید. در صورتی که دارای نام کاربری در مجموعه سیویلیکا هستید، ابتدا از قسمت بالای صفحه با نام کاربری خود وارد شده و سپس به این صفحه مراجعه نمایید.
لطفا قبل از اقدام به خرید اینترنتی این مقاله، ابتدا تعداد صفحات مقاله را در بالای این صفحه کنترل نمایید.
برای راهنمایی کاملتر راهنمای سایت را مطالعه کنید.

خرید و دانلود فایل مقاله

با استفاده از پرداخت اینترنتی بسیار سریع و ساده می توانید اصل این مقاله را که دارای ۶ صفحه است در اختیار داشته باشید.

قیمت این مقاله : ۳,۰۰۰ تومان

آدرس ایمیل خود را در کادر زیر وارد نمایید:

مشخصات نویسندگان مقاله مرور روش های تحلیل رفتار ترک و اثرات آن در مواد پیزوالکتریک

  عباس کمالو - دانشجوی دکتری مکانیک، دانشکده فنی مهندسی دانشگاه آزاد اسلامی واحد تهران جنوب، گروه تحصیلات تکمیلی مهندسی مکانیک طراحی جامدات
  سیدمحمدرضا خلیلی - استاد تمام دانشکده مکانیک دانشگاه خواجه نصیرالدین طوسی، دانشکده مهندسی مکانیک دانشگاه خواجه نصیرالدین طوسی

چکیده مقاله:

هدف از این تحقیق مطالعه و بررسی روش های پیشنهاد شده توسط محققین طی 15 سال گذشته در زمینه ترک در مواد پیزوالکتریکی به ویژه سرامیک های پیزوالکتریک می باشد. با توجه به اینکه در اینگونه مواد بمنظور دستیابی به یک کرنش قابل ملاحظه نیاز به چیدمان لایه های مختلفی از مواد پیزوالکتریک بر روی یکدیگر می باشیم، مشابه تمام چند لایه های یکی از مهمترین آسیب های مخرب مطرح ترک های اینترفیسی می باشند، که شناسایی رفتار و خواص آنها می تواند در طراحی سازه های مقاوم تر بسیار مفید واقع شود. در این تحقیق در ابتدا روش های مختلف بررسی رفتار ترک مورد بررسی قرار گرفته است؛ که از آن جمله می توان به روش انرژی ذخیره شده، چگالی انرژی ترک و فاکتورهای شدت تنش و جابجایی الکتریکی اشاره کرد. در نهایت در ارتباط با کاربرد هر کدام از روش های ذکر شده به مطالعه مقالات و مقایسه میان آنها به ویژه در زمینه ترک های اینترفیسی و کامپوزیت های پیزوالکتریک/پیزومغناطیس پرداخته ایم. نهایتاً به این نتیجه رسیدیم که از میان روش های ذکر شده، استفاده از روش فاکتورهای شدت تنش و جابجایی الکتریکی به منظور بررسی رفتار ترک های اینترفیسی مواد پیزوالکتریک بهتر هستند.

کلیدواژه‌ها:

سرامیک های پیزوالکتریک، نرخ انرژی رها شده کرنشی مکانیکی (MSERR)، چگالی انرژی ترک (CED)، فاکتور شدت تنش (SIF)، ترک اینترفیسی

کد مقاله/لینک ثابت به این مقاله

برای لینک دهی به این مقاله، می توانید از لینک زیر استفاده نمایید. این لینک همیشه ثابت است و به عنوان سند ثبت مقاله در مرجع سیویلیکا مورد استفاده قرار میگیرد:
https://www.civilica.com/Paper-NCMEIS01-NCMEIS01_068.html
کد COI مقاله: NCMEIS01_068

نحوه استناد به مقاله:

در صورتی که می خواهید در اثر پژوهشی خود به این مقاله ارجاع دهید، به سادگی می توانید از عبارت زیر در بخش منابع و مراجع استفاده نمایید:
کمالو, عباس و سیدمحمدرضا خلیلی، ۱۳۹۴، مرور روش های تحلیل رفتار ترک و اثرات آن در مواد پیزوالکتریک، اولین کنفرانس سالانه ملی مهندسی مکانیک و راهکارهای صنعتی، مشهد، مرکز علمی آموزشی و پژوهشی ارگ، https://www.civilica.com/Paper-NCMEIS01-NCMEIS01_068.html

در داخل متن نیز هر جا که به عبارت و یا دستاوردی از این مقاله اشاره شود پس از ذکر مطلب، در داخل پارانتز، مشخصات زیر نوشته می شود.
برای بار اول: (کمالو, عباس و سیدمحمدرضا خلیلی، ۱۳۹۴)
برای بار دوم به بعد: (کمالو و خلیلی، ۱۳۹۴)
برای آشنایی کامل با نحوه مرجع نویسی لطفا بخش راهنمای سیویلیکا (مرجع دهی) را ملاحظه نمایید.

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :

  • Yu SW, Qin QH: Damage analysis of thermo piezoelectric properties ...
  • Qin QH, Yu SW: An arb itrari ly-oriented plane crack ...
  • Qin QH, Mai YW: A closed crack tip model for ...
  • Narita F, Lin S, Shindo Y: Penny-shaped crack in a ...
  • Beom HG, Atluri SN, 1996. Near-tip fields and intensity factors ...
  • Byeung-Gun Nam, Katsuhiko Watanabe; Crack energy density and energy release ...
  • Y. Lapusta, A . Komarov, F. Labesse-Jied, R. Moutou Pitti, ...
  • X. Wang, Z. Zhong, F.L. Wu; A moving conducting crack ...
  • Hao-sen Chen, Wei-yi Wei, Jin-xi Liu, Dai-ning Fang; Propagation of ...
  • Yong-Dong Li, Hao Zhao, Nan Zhang; Mixed mode le ctric-p ...
  • With two un-coaxia cracks parallel to the interface and each ...
  • M agne to stri ctive/e lectrostrictive fracture of the piezomagnetic ...
  • Li, Y.D., Lee, K.Y., 2010a. Effects of magneto- electric loadings ...
  • Li, Y.D., Lee, K.Y., 2010c. Two collinear unequal cracks in ...
  • Li, Y.D., Lee, K.Y., 2010d. Collinear unequal crack series in ...
  • Zhong, X.C., Lee, K.Y., 2011. A dielectric crack in a ...
  • MingHao Zhao, Na Li, CuiYing Fan; Solution method of interface ...
  • Zhang TY, Zhao MH, Tong P. Fracture of p iezo ...
  • علم سنجی و رتبه بندی مقاله

    مشخصات مرکز تولید کننده این مقاله به صورت زیر است:
    نوع مرکز: دانشگاه آزاد
    تعداد مقالات: ۸۳۶۵
    در بخش علم سنجی پایگاه سیویلیکا می توانید رتبه بندی علمی مراکز دانشگاهی و پژوهشی کشور را بر اساس آمار مقالات نمایه شده مشاهده نمایید.

    مدیریت اطلاعات پژوهشی

    اطلاعات استنادی این مقاله را به نرم افزارهای مدیریت اطلاعات علمی و استنادی ارسال نمایید و در تحقیقات خود از آن استفاده نمایید.

    مقالات پیشنهادی مرتبط

    مقالات مرتبط جدید

    شبکه تبلیغات علمی کشور

    به اشتراک گذاری این صفحه

    اطلاعات بیشتر درباره COI

    COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
    کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.