اثرات آب برروی رفتار و خواص سیلیکون مورد استفاده در ساختار سیستم های الکترو مکانیکی (MEMS)

سال انتشار: 1392
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 620

فایل این مقاله در 5 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

NCMII01_289

تاریخ نمایه سازی: 22 اردیبهشت 1393

چکیده مقاله:

سیلیکون ماده ای است که در بیشتر سیستم های الکترو مکانیکی (mems) مورد استفاده قرار می گیرد از اینرو رفتارهای سیلیکون درتماس با اب ، هوا و رطوبت در این تحقیق مورد بررسی شده است .در قسمت اول قدرت شکست سیلیکون در آب بررسی شده وبه کمک AFM و تصاویر ان در مقیاس میکرونی و مقایسه ساختار SI-O-SI قبل وبعد از تماس با اب نشان دهنده ی ان است که ساختار دچار دگردیسی شده است و در قسمت دوم رفتار ساختار پوشش SI/SIO2 در اب وهوا بررسی شده است در ابتدا با تغییر نیرو از 3-1 میکرون و تغییر چرخه از N=1- N= 100 شکاف پوشش در هوا برای تغییر چرخه از 8- 0.07 نانو متر و برای اب تقریبأ بعد از چند چرخه در 0.25 نانو متر ثابت باقی می ماند و نیز برای هوا از8.3 – 3.1 میکرون و دراب 2.4 میکرون ثابت می ماند و همچنین همین شرایط نیز برای اکسیژن و نیتروژن خالص و هوای خشک انجام شده است که نتایج نشان میدهد که در تماس با اکسیژن پوشش دارای شکاف بیشتری است و این بدلیل تشکیل پیوند SI-O-SI بهتری است که ایجاد می شود و در نهایت نتایج این رفتارها ذکر شده است

نویسندگان

یونس امین

دانشجوی کارشناسی ارشد طراحی کاربردی، دانشگاه آزاد اسلامی واحد نجف آباد،

مجتبی کلاهدوزان

استادیار، عضو هیئت علمی دانشکده فنی و مهندسی، دانشگاه آزاد اسلامی واحد نجف آباد،

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • silicon structure in MEMS" '.Microelectrc Relibility, Vol. No 53, ppt ...
  • ip in water" science direc. Wear, Vol. No 301. 791- ...
  • Khan. H et al."surface oxide effect on failure polysilicon MEMS ...
  • P. L Charvet et al3 MEMS packaging reliability assesment Residual ...
  • J. Keller et al , " Effect of moisture swelling ...
  • packaging and integrated sensors", Microelectron Reliability, Vol No 53, ppt. ...
  • Van Gils Maj et al, "Virtual qualification of misture induce ...
  • نمایش کامل مراجع