ورود
مقالات فارسیISIکنفرانسهاژورنالها

بررسی نرخ آسیب SEU ناشی از پرتو های کیهانی بر حافظه ها در کاربردهای فضایی

محل انتشار: چهارمین کنفرانس ملی ایده های نو در مهندسی برق
سال انتشار: 1394
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 623

فایل این مقاله در 5 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:
https://civilica.com/doc/533621

شناسه ملی سند علمی:

NCNIEE04_007

تاریخ نمایه سازی: 25 آذر 1395

چکیده مقاله:

استفاده از حافظه ها در کاربردهای فضایی مانند عملیات اکتشاف دور به دلیل قابلیت باز پیکربندی در این قطعات بسیار مورد توجه می باشد و یکی از پرکاربردترین قطعاتی می باشند که در بخش های الکترونیکی به شکل های مختلف استفاده می شوند. در کاربردهای فضایی، واژگونی بیتهای حافظه بر اثر برخورد ذرات پرانرژی عامل محدود کننده برای کاربرد حافظه می باشد برای مقابله با این پدیده، تکنیک های مقاوم سازی مختلفی استفاده می شود . یکی از این تکنیک ها استفاده از کد همینگ برای مقابله با SEU می باشد این کد قابلیت شناسایی ۲ بیت خطا و تصحیح خطاهای تک بیتی را دارد . استراتژی جایابی بیت برای بهبود تشخیص خطاهای مجاور در کدهای همینگ مورد استفاده در حافظه ها برای ۸، ۱۶ و ۳۲ بیت اطلاعات معرفی شده است در این مقاله با بررسی نتایج گزارش شده و کاربرد حافظه ها در ماهواره ها،از تکنیک های مقاوم سازی برای بهبود خطاهای مجاور دوتایی در کد همینگ ۸.۴ استفاده می کنیم

کلیدواژه ها:

واژگونی بیت های حافظه ، مقاوم سازی حافظه ها ، نرخ خطای متغیر با زمان

نویسندگان

سید علی حسینی

دانشجوی ارشد برق دانشگاه آزاد اسلامی خوراسگان

محمدروح اله یزدانی

استادیار گروه برق دانشگاه آزاد اسلامی واحد اصفهان(خوراسگان)

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • رضا امی‌دی و کری‌م محمدی، تاثیر نرخ واژگونی متغیر با ...
  • A. Raoul Velazcn and B. Pascal Fouillat, "Radiation Effects on ...
  • Christian Poivey and others, 'Lessons Learned from Radiation Induced Effect ...
  • Israel Koren and C. Mani Krishna, "Fault-Tolerat Systems", Elsevier, Pages: ...
  • A. E. Sicard and B. S. Bendhia, "Advanced CMOS Cell ...
  • _ Cellere, G. and B. Paccagnella, A, _ Review of ...
  • J.L. Barth & al., "Single Event Effects on Commercil SRAMs ...
  • _ _ of the SEU rate ofmicrocircuit exposed by the ...
  • D. Falguere & al., "In-Flight Observations of the Irradiative _ ...
  • S , Esteve Hoyos, N.D.R. Evans, and E. Daly, 0"From ...
  • _ _ _ _ _ _ of time- Conference on ...
  • _ _ _ _ _ Ihternational Symposium on Publication Year: ...
  • Tieling Zhang and Michio Horigome, ":Availability and Reliability of System ...
  • Narasimha Raju Gottumukkala and others, :Reliability of a ...
  • VOL. 59, NO. 1, MARCH 2010. ...
  • Thomas F. Hassett Duane L. Dietrich Ferene Szidarovszky, :Time-Varying Failure ...
  • _ _ _ RELIAB ILTY, _ 58, NO. 1, MARCH ...
  • J.M. Kontoleomand J. Andrianakis, "Reliability analysis of simplex and duplex ...
    • نمایش کامل مراجع