بررسی تاثیر دمای لایه نشانی بر خواصسطحی و تریبولوژی لایه آلومینا انباشت شده بر روی BK7 بهروشکندوپاشمغناطیسی

سال انتشار: 1390
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 941

متن کامل این مقاله منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل مقاله (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

NCOLE02_065

تاریخ نمایه سازی: 24 اسفند 1389

چکیده مقاله:

در این تحقیق، لایههای اکسید آلومینیوم به ضخامت تقریبی2mmبر روی زیرلایههایی از جنسBK7 به روش کندوپاش مغناطیسی جریان متناوب انباشت شده است. لایهنشانی در دماهای 100 ، 200 و 250 و 300 درجه سانتیگراد انجام گرفته و بوسیله سیستم RBS ،SPM و پاششآب فشار بالا سرشت سنجی شدهاند. نشان داده شد که تغییر دمای زیرلایه با توجه به تغییر اندازه دانه و در نتیجه با استفاده از رابطه هال-پچ، تاثیر زیادی بر ریخت سطح و خواص تریبولوژی آن داشته است. همچنین با افزایش دمای زیرلایه از میزان آرگون مدفون شده در ساختار فیلم کاسته شده است.

نویسندگان

شهاب نوروزیان

مرکز ملی علوم و فنون لیزر ایران

جهانبخش مشایخی

مرکز ملی علوم و فنون لیزر ایران

زهرا شفیعی زاده

مرکز ملی علوم و فنون لیزر ایران

علی پیری

مرکز ملی علوم و فنون لیزر ایران

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • . W.H. Gitzen, Alumina as a ceramic material (The American ...
  • . Marvin J. Weber, Handbook of optical materials, CRC Press, ...
  • . M. Specht, H. Reisinger, F. Hofman, T. Schulz, E. ...
  • P.D. Ye, B. Yang, K.K. Ng, J. Bude, G.D. Wilk, ...
  • . S. Ruppi, Int. J. Refract. Met. Hard Mater. 23, ...
  • . Z.-J. Liu, Z.-K. Liu, C. McNerny, P. Mehrotra, and ...
  • . S. M. Baumann, C. C. Martner, D. W. Martin ...
  • . G. Hoetzh, O. Zywitzki, and H. Saham, 4" anmual ...
  • . K. Linda and T. Tsujida, Jpn. J. Appl. Phys, ...
  • . Q. Li Y. H. Yu, C. S. Bathia and ...
  • . J.M. Andersson, E. Wallin, U. Helmersson, U. Kreissig, and ...
  • . M. Ohring, Materials Science of Thin Films, 3nd ed. ...
  • . M. M. Larijani, Sh. Norouzian, R. Afzalzadeh, P. Balashabad, ...
  • نمایش کامل مراجع