شبیه سازی دینامیک مولکولی تشکیل لایه نازک فلزی در روش باریکه نانو خوشه یونیده ICBD

سال انتشار: 1386
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 2,515

متن کامل این مقاله منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل مقاله (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

NCV03_020

تاریخ نمایه سازی: 1 شهریور 1387

چکیده مقاله:

در این مقاله به کمک شبیه سازی دینامیک مولکولی MD شاخصه های برخورد یک نانو خوشه نیکل با اندازه ها و انرژی های مختلف که در روش لایه نشانی باریکه نانو خوشه های یونیده ICBD استفاده می شود ، مورد بررسی قرار گرفت . انرژی خوشه ها eV/atom 20-1 تعداد اتمهای خوشه ها، 14، 47، 18، 55، 87 و 177 انتخاب شدند. در این تحقیق وابستگی سایز خوشه به حداکثر دمای زیر لایه در لحظه برخورد نانو خوشه به سطح و زمان رسیدن به دما مورد بررسی قرار گرفت . همچنین وابستگی سایز و انرژی خوشه ها به تعداد اتمهای جابجا شده در زیر لایه ، اتمهای پراکنش شده و اتمهای نفوذ یافته در زیرلایه بررسی شد .هر یک از این پارامترها نقش کلیدی در نوع لایه بوجود آمده دارند.

نویسندگان

کاووس میرعباس زاده

دانشکده فیزیک دانشگاه صنعتی امیرکبیر، تقاطع خیابان حافظ سمیه، تهران

پیمان نایبی

گروه فیزیک دانشکده فنی مهندسی دانشگاه آزاد اسلامی واحد ساوه، ساوه

شهریار سرآمد

دانشکده فیزیک دانشگاه صنعتی امیرکبیر، تقاطع خیابان حافظ سمیه، تهران

اسماعیل زمین پیما

دانشکده فیزیک دانشگاه صنعتی امیرکبیر، تقاطع خیابان حافظ سمیه، تهران

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • H. Haberland , J. Vac. Sci. and Technol. 1994, A12, ...
  • P.M. Echenique, J.R. Manson, Phys. Rev. Lett.1990, 64 , 1413 ...
  • I. Yamada and G.H. Takaoka, Jpn. .I. Appl. Phys.1993, 32 ...
  • _ K. Meinander, K. Nordlund, J. Keinonen, Nucl. Instrum. Meth. ...
  • . H. Haberland et al., J. Vac. Sci. and Technol. ...
  • نمایش کامل مراجع