روش جدید تولید الگوی آزمایش مبتنی بر الگوریتم ژنتیک، برای آزمایش مدارات الکترونیکی

پیشرفت روز افزون علم الکترونیک همواره باعث تولید مدارات پیچیده و تر بوجود آمدن مدارات چند منظوره با وظیفه مندیهای پیچیده و حیاتی شده است. کاهش هزینه های تولید و حجم سخت افزاری، همچنین افزایش قابلیت اطمینان و اتکاپذیری این سیستم ها همواره چالشهای بزرگی سر راه محققان می باشند، آزمایش مرحله به مرحله مدارات در طی فرایند ساخت و آزمایش مدارات قبل زا ورود به بازار به عنوان یکی از تکنیکهای افزایش قابلیت اطمینان مطرح می شود. یکی از مهمترین مسائل انجام آزمایش، تولید الگوی آزمایش بهینه می باشد؛ که بتوان الگوهایی با طول کوتاهتر و تعداد کمتر تولید نمود. در این مقاله ضمن بررسی روشهای مختلف ارائه شده برای تولید الگوی آزمایش، مانند روشهای شبه تصادفی و روش فراگیر، یک روش تولید الگوی آزمایش مبتنی بر الگوریتم ژنتیک ارائه می دهیم؛ که قادر است برای آزمایش مدارات با تعداد ورودیهای زیاد الگوهای آزمایش بهینه ای تولید کند. الگوریتم ارائه شده را با الگوریتم شبه تصادفی که از پر کاربردترین روشهای تولید الگوی آزمایش می باشد مقایسه می کنیم. نتایج بدست آمده بر روی مدارهای ISCAS'85 نشان می دهد که الگوریتم ارائه شده بسیار بهتر از روش های ارائه شده قبلی عمل می کند؛ بعلاوه اینکه مجموعه الگوهای آزمایش تولید شده با این الگوریتم بسیار فشرده تر هستند.

کلیدواژه ها:

آزمون پذیری ، تولید الگوی آزمایش ، الگوریتم ژنتیک ، الگوهای شبه تصادفی